Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
Interaction between a probe for scanning near-field optical microscopy (SNOM) and near electromagnetic field is a fundamental problem, with its solution being a necessary condition for the correct interpretation of experimental data. This bachelor's thesis is aiming to thoroughly describe this problem and by precise manufacturing of our own SNOM probes help to reach solution of this problem. For this purpose, the detection of near-field generated by interference of surface plasmon polaritons (SPP) on square shape nanostructures is being used. This study has proven the dependence of SNOM probe sensitivity to near-field components on the size of a SNOM aperture.
Interaction between a probe for scanning near-field optical microscopy (SNOM) and near electromagnetic field is a fundamental problem, with its solution being a necessary condition for the correct interpretation of experimental data. This bachelor's thesis is aiming to thoroughly describe this problem and by precise manufacturing of our own SNOM probes help to reach solution of this problem. For this purpose, the detection of near-field generated by interference of surface plasmon polaritons (SPP) on square shape nanostructures is being used. This study has proven the dependence of SNOM probe sensitivity to near-field components on the size of a SNOM aperture.
Description
Citation
KRPENSKÝ, J. Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2020.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2020-07-16
Defence
Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno:
Evanescentní vlny.
Student otázky zodpověděl.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení