Rastrovací elektronová mikroskopie vzorků zahřívaných na zvýšenou teplotu

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Tato bakalářská práce se zabývá rastrovací elektronovou mikroskopií vzorků, které jsou zahřívány na teploty do 650 °C pomocí průchodu elektrického proudu. V práci je podán teoretický popis základních principů elektronové mikroskopie. V praktické části je rozebrán vliv jednotlivých faktorů ovlivňujících průběh a kvalitu zobrazování vzorků.
This bachelor thesis deals with scanning electron microscopy at samples which are heated (by electric current) up to 650 °C. The theoretical description of basic principles of electron microscopy is given. The effect of different factors that influence sample imagining and image quality is analyzed in experimental part.
Description
Citation
FLEKNA, M. Rastrovací elektronová mikroskopie vzorků zahřívaných na zvýšenou teplotu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2013.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2013-06-20
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO