Termomechanická spolehlivost pájeného připojení elektronických modulů s LTCC

but.committeeprof. Ing. Jaromír Brzobohatý, CSc. (předseda) RNDr. Ladislav Mareček, CSc. (místopředseda) Ing. Jan Prášek, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Starý, Ph.D. (člen) prof. Ing. et Ing. Fabian Khateb, Ph.D. et Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent Bc. Michal Krajíček seznámil komisi se svoji diplomovou prací na téma: Termomechanická spolehlivost pájeného připojení elektronických modulů s LTCC Odpověděl na otázky oponenta - 1.) Cím byste vysvětlil přítomnost kuliček pájky na obr. 5.6. a 5.8.? 2.) Jakou metodu byste použil na testování smáčivosti povrchových úprav na FR4 i vodivých motivů realizovaných pastami na LTCC? Neposkytlo by to vysvětlení defektů na obr. 8.14. a 8.17? Dále proběhla krátká rozprava k tématu diplomové práce.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠandera, Josefcs
dc.contributor.authorKrajíček, Michalcs
dc.contributor.refereeStarý, Jiřícs
dc.date.accessioned2019-04-04T03:36:29Z
dc.date.available2019-04-04T03:36:29Z
dc.date.created2011cs
dc.description.abstractTato práce se zabývá spojováním DPS s mikroelektronickými a elektronickými moduly a navazuje na bakalářskou práci MODERNÍ METODY MONTÁŽE MIKROELEKTRONICKÝCH MODULŮ. Obsahuje výčet základních organických a anorganických substrátů, definici termomechanického namáhání v pájených spojích, popis termomechanického namáhání v pájených spojích a popis technologie LTCC Praktická část obsahuje popis spojení modulů pomocí čipových součástek a návrh plošných spojů pro základní DPS a moduly a výsledky teplotního cyklování testovaných modulů.cs
dc.description.abstractThis thesis is considered about interconnect PCB with microelectronic and electronic modules and continuing on thesis MODERN CAUSES OF ASSEMBLY MICROELECTRONICS AND ELECTRONICS MODULES. This thesis includes, definition of termomechanical strain in solder joints and description of LTCC technology. Practical part includes characterization the causes of assembly with usage chip component and proposal footprint for PCBs, modules and results of temperature cycling of tested modules.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationKRAJÍČEK, M. Termomechanická spolehlivost pájeného připojení elektronických modulů s LTCC [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.cs
dc.identifier.other40814cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/1748
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectLTCCcs
dc.subjectbezolovnatý pájený spojcs
dc.subjectSMDcs
dc.subjectteplotní cyklovánícs
dc.subjectkoeficient tepelné roztažnostics
dc.subjectspolehlivostcs
dc.subjectFR4.cs
dc.subjectLTCCen
dc.subjectlead free solder joinen
dc.subjectSMDen
dc.subjecttemperature cyclingen
dc.subjecttemperature coefficient of expansionen
dc.subjectreliabilityen
dc.subjectFR4en
dc.titleTermomechanická spolehlivost pájeného připojení elektronických modulů s LTCCcs
dc.title.alternativeThermomechanical reliability of solder connection in electronic modules with LTCCen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2011-06-07cs
dcterms.modified2011-07-15-10:45:29cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid40814en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 11:12:16en
sync.item.modts2021.11.12 10:07:03en
thesis.disciplineMikroelektronikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
3.56 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_40814.html
Size:
6.47 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_40814.html
Collections