HLAVATÝ, V. Svařování speciálních optických vláken [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2013.
Student se ve své práci věnuje technologii svařování polarizačně závislých optických vláken. Tato vlákna mají ve srovnání se standartními vlákny složitější strukturu a proto je navržení vhodných parametrů svařovacího procesu velmi komplexní a složitý proces. Student se své práce ujal zodpovědně a přes problémy s dodavatelem svařovacího systému se mu podařilo najít klíčové parametry a definovat intervaly hodnot pro jejich nastavení. Při realizaci práce student nastudoval příslušné materiály z oblasti optických vláken a jejich svařování. Projevil také velkou dávku trpělivosti a prokázal, že je schopen přistoupit k řešení problému systematicky. Při hledání vazeb mezi nastavenými parametry svařovacího procesu a výslednou kvalitou sváru, realizoval několik set kontrolních svárů s různými typy optických vláken. Podařilo se mu také nalézt naprosto neočekávané vztahy např. mezi zalomením optických vláken a kvalitou jejich svaření. Na závěr své práce také navrhl a realizoval metodu měření, která je schopna měřit odrazy na optických svárech až do útlumu 62 dB. Celkově student k práci přistoupil zodpovědně a s menšími přestávkami se mu ji podařilo dokončit. Grafickou a textovou úroveň bakalářské práce považuji po mnoha realizovaných úpravách za dostatečnou. Student v plném rozsahu splnil zadání své bakalářské práce.
Bakalářská práce je logicky rozdělena do tří hlavních celků. Student se postupně zabývá teorií spojování optických vláken přes praktickou realizaci svárů PM vláken, až po vyhodnocení odrazu a útlumu vyrobených svárů. Výsledky praktické části jsou v práci přehledně prezentovány. Je patrný přínos práce v podobě svářecích procesů pro PM vlákna i přes nutnost korekce procesu pro jiné šarže optického vlákna. Student experimentálně identifikoval hlavní parametry, díky kterým lze svářecí proces vhodně upravit pro jinou šarži optického vlákna. Navržená metoda pro měření odrazu je vhodná pro rychlé laboratorní měření bez nutnosti drahých OTDR. V rámci vyhodnocení výsledků metody pro měření odrazu student provedl měření odrazu a útlumu dostupných optických konektorů. Po formální stránce práce obsahuje občasné překlepy např. na str. 17 a 45. U obr 1.8 je nejasný popisek. V obsahu je nesmyslná položka BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Jako vážný problém vidím značení jednotky nm na straně 11, kde je místo předpony n pro značení řádu nano použito (eta).
eVSKP id 66991