SOPOUŠEK, J. Vady seřízení hexapólového korektoru sférické vady, jejich analýza a korekce [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017.
Diplomová práce pojednává o problematice seřízení hexapólového korektoru sférické vady v elektronových mikroskopech. Zahrnuje teoretický popis elektronově optických systémů – vhodný popis pole, paraxiálních vlastností i aberací. Pro popis aberací si autor vybral metodu eikonálu, která je v tomto oboru nejpoužívanější. Zavedené metody pak používá pro výpočet optických vlastností standardního hexapólového korektoru, a to jak základních vlastností neporušeného korektoru, tak analýze vlivu špatného seřízení korektoru. Autor se omezuje na vliv nepřesného sestavení jednotlivých prvků korektoru (mimo osová poloha, náklon a případná rotace hexapólu) a elipticitu čoček. Metodu je však možné použít i na jiné druhy parazitických aberací, které v práci analyzované nejsou. Autor dobře popsal vliv symetrie v korektoru a jeho použití při korekci parazitických aberací. Krátce byla také diskutována metoda korekce jednotlivých parazitických aberací a požadovaná přesnost jejich korekce pro zachování co nejlepšího rozlišení systému. Grafická úprava diplomové práce je na vysoké úrovni, bohužel jsou ale nepřehlédnutelné některé kostrbaté větné konstrukce a chyby v anglickém textu. Autor v práci prokázal samostatnost při řešení dílčích problémů, ale také při zpracování tématu jako celku. Vhodně a zcela samostatně si zvolil nástroje a metody, které použil při řešení. Diplomová práce samozřejmě nemůže sloužit jako návod pro korekci systému s hexapólovým korektorem, ale může být dobrým základem, pro případné řešení takovéhoto problému v praxi. Hlavním nedostatkem při zpracování tématu byla práce s odbornou literaturou. Studiu vlivu parazitických aberací na hexapólový korektor se sice doposud nevěnovalo mnoho pozornosti, ale popis základních vlastností systému s korektorem a výpočtu jeho vlastností je součástí několika publikací. Autor však preferuje najití vlastní cesty, která je mnohdy paralelní k už zavedeným postupům. To se mimo jiné projevuje ve zcela originální notaci aberačních koeficientů, což bohužel mírně snižuje použitelnost výsledků této práce pro širší odbornou veřejnost.
| Kritérium | Známka | Body | Slovní hodnocení |
|---|---|---|---|
| Splnění požadavků a cílů zadání | A | ||
| Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod | A | ||
| Vlastní přínos a originalita | B | ||
| Schopnost interpretovat dosažené vysledky a vyvozovat z nich závěry | B | ||
| Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii | A | ||
| Logické uspořádání práce a formální náležitosti | A | ||
| Grafická, stylistická úprava a pravopis | C | ||
| Práce s literaturou včetně citací | C | ||
| Samostatnost studenta při zpracování tématu | A |
Diplomová práce se zabývá analýzou vad seřízení hexapólového korektoru vad. Tento typ korektoru je velmi důležitý pro dosažení rozlišení mikroskopu pod 100 pm, případně pro práci s vyšší hodnotou proudu. Byla zvolena vhodná metoda výpočtu vad založená na eikonálu, který dovoluje snadnější diskusi požadavků symetrie a antisymetrie polí. V diskusi o korektoru se diplomant ale vyhýbá často uvažovanému problému s chováním celého systému včetně přenosových čoček, diskutuje jen samotné hexapóly a dvojici čoček mezi nimi. Uvažuje také tyto prvky zjednodušeně, a to hexapól s konstantní velikostí pole, a obě čočky pak jen jako čočky tenké. Také se vyhýbá diskusi, pro jaké typy mikroskopů (TEM, STEM) se uvažuje použití korektoru. Práce je psána v angličtině s řadou chyb v pravopisu, vynechané určité a neurčité členy, nesprávné předložkové vazby, častá chybná shoda podmětu s přísudkem. Naštěstí tyto chyby nebrání pochopení textu. Pokud jde o styl, rušivé je nepoužívání interpunkce ve vzorcích, po kterých zpravidla následuje „Where…“ s velkým počátečním písmenem. Lze konstatovat, že student se se složitou problematikou dokázal úspěšně poprat, analýza vad seřízení je zpracována přehledně. Vady seřízení jsou ilustrovány vhodnými obrázky. Vady a rozlišení jsou spočteny pro jednu numerickou hodnotu Cs=Cc=2,5 mm. Není diskutován rozdíl v použití korektoru v TEM a STEM systému a použití realistických polí pro určení vlastností korektoru.
| Kritérium | Známka | Body | Slovní hodnocení |
|---|---|---|---|
| Splnění požadavků a cílů zadání | A | ||
| Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod | A | ||
| Vlastní přínos a originalita | A | ||
| Schopnost interpretovat dosaž. vysledky a vyvozovat z nich závěry | A | ||
| Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii | A | ||
| Logické uspořádání práce a formální náležitosti | A | ||
| Grafická, stylistická úprava a pravopis | C | ||
| Práce s literaturou včetně citací | B |
eVSKP id 101549