TOMÁNEK, J. Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.

Posudky

Posudek vedoucího

Šťáva, Martin

Práce vznikla ve spolupráci s pobočkou firmy ON Semiconductor v Rožnově pod Radhoštěm. Svým charakterem je prací vývojovou z oblasti (analogově-)číslicového návrhu a verifikace. Cílem práce byl návrh a přiměřená verifikace testovacího rozhraní, které bude ovládáno čtyřmi, třemi, dvěma, popř. jedním či žádným signálovým vodičem namísto standardními pěti signály, a to konkrétně pro testovací sestavu s testerem ETS-364 a čipem NCP 12600 (ASIC čip fy ON Semiconductor). Student zadání práce splnil, potřebám firmy zcela vyhověl. Zatímco s technickým řešením jsem víceméně spokojen, k samotnému zpracování textové části DP mám několik výhrad. Své konkrétní komentáře (jak k technickému řešení, tak k formálnímu zpracování textové části) jsem podrobně uvedl přímo v originální verzi výtisku DP. Z formálního hlediska by textová část DP zasloužila určité vylepšení. Prvním takovým návrhem na vylepšení je oprava chyb v anglickém abstraktu; dále srozumitelnější uvedení do problematiky testování čipů ASIC (nejlépe pomocí obrázku) ve spojení s testerem a uvést testovací sestavu, pro niž jsou konkrétní řešení navrhována; doplnit seznam zkratek, které jsou v práci použity, ale v Seznamu zkratek nejsou uvedeny (např. PI, PO, CL, SA); dát do souladu zkratky v kap. 1.1 mezi textem a obr. 1; text v obrázcích uvádět česky, nikoliv anglicky; psát jen o konkrétním generátoru testovacích vektorů (ATPG), protože obecné výroky o nich na str. 15 nejsou všeobecně platnými; lépe provázat obr. 7 a 8 s textem a řešeným problémem; některé obrázky hůře čitelné (např. str. 21); některé výroky přeformulovat, neboť nejsou správnými (např. str. 22 vs. str. 29); přesněji a jasněji popsat obr. 24 a 25 a provázat je; jasně vysvětlit a (nejlépe obrázky) ukázat použití čtyř-, tří-, dvou-, jedno- a nula-vodičového rozhraní pro testování (str. 34 až 44). Kladné stránky z formálního hlediska jsou především přiměřená strukturovanost práce, kapitoly na sebe (až na výjimky) logicky navazují a vztahují se k tématu práce. Text práce je přiměřeně čtivý. Použité literární zdroje jsou vhodné, v přiměřeném počtu, různého typu (tištěné i elektronické monografie, sborníkové příspěvky, časopisecké články aj.), jsou řádně citovány a jsou až na několik nedostatků uvedeny podle doporučené normy ČSN ISO 690:2011. I když typograficky a jazykově shledávám práci celkem kvalitní – se zanedbatelným počtem pravopisných chyb a překlepů, dodržující současná pravidla jazyka českého – několik nedostatků, třebaže jich je jen minimum, by mohlo být opraveno (např. str. 12, 18, 20, 27, 34, 35 aj.). K technickému řešení mám především připomínky ke kap. 3.1 (str. 29) o trojúrovňovém řešení napájecím napětím – řešení tak, jak je předloženo, nemůže být funkčním (viz mé podrobné komentáře na str. 29 a 30). Pro jednovodičové rozhraní by bylo vhodné uvést jasný způsob použití, protože použití takové, jaké je mnou ukázáno na obr. 35* (str. 41 a 43), je dosti riskantní a zpochybnitelné; rovněž použití takové, jaké je mnou ukázáno na obr. 35** (str. 41 a 43), je dosti obtížné, neboť změna odběru proudu je nelehko snímatelná a je nutné zaručit stabilitu všech signálů, kromě výstupního signálu sm_so_o. Nulavodičové řešení takové, jak je předloženo (str. 44), je nefunkční (souvisí s již výše zmíněnou kap. 3.1). Celkový přístup Jakuba Tománka k řešení problému hodnotím jako uspokojivý – úkoly sice řešil samostatně a se zájmem, zato doporučení a „nařízení“ vyplývající z našich schůzek do práce zahrnul velmi omezeně (viz mé komentáře k formálnímu zpracování, které jsme spolu již několikrát diskutovali po obhajobě semestrálního projektu a rovněž později při psaní finální verze DP). Praktickou část student řešil na pracovišti ON Semiconductor v Rožnově pod dohledem konzultanta práce. Závěrem konstatuji, že zadání práce bylo splněno, navíc i s volitelným návrhem dalšího řešení (nulavodičového). Technickou (odbornou) část diplomové práce Jakuba Tománka hodnotím známkou B (velmi dobře), formální část diplomové práce a přístup k řešení problému hodnotím stupněm D (uspokojivě). Protože uvažuji stejnou váhu obou částí hodnocení, diplomovou práci Jakuba Tománka hodnotím celkovou známkou C (dobře) s celkovým počtem bodů 70 a doporučuji k obhajobě.

Navrhovaná známka
C
Body
70

Posudek oponenta

Dvořák, Vojtěch

Student Jakub Tománek vypracoval diplomovou práci na téma Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů. Práce je zaměřena na zajímavou tématiku testování digitálních integrovaných obvodů a digitálních částí obvodů ve smíšeném módu s malým počtem vývodů, kde není možné použít běžnou testovací metodiku vyžadující alespoň 5 pinů. Po formální stránce je práce na nízké úrovni. Obrázky převzaté z literatury mají nízkou kvalitu a mnoho z nich je nečitelných. Mnohdy z textu není patrné, proč je obrázek do textu vložen či je jeho vypovídací hodnota nízká. V textu práce se často opakují osamocené předložky a spojky na konci řádku. Samotný text je bez většího množství překlepů. Po odborné stránce mám také výhrady. Koncept navržený v kapitole 3.1 se nezdá být funkční. Řešení popsaná v kapitole 4 jsou nejednoznačná a nedostatečně ověřena. Např. v kapitole 4.1 (Čtyřvodičové rozhraní) obrázek 24 obsahuje jen dva testovací signály a časové průběhy ze simulace (obrázek 25) zobrazují jen 3 signály a není tedy jasné, jak jsou zapojeny zbývající signály testovacího rozhraní. V časových průbězích v simulaci se data vždy mění po polovině hodinovém taktu, v práci by měly být uvedeny i výsledky simulace pro případy, kdy se data takto nemění. Obdobné připomínky pak lze vznést i k ostatním řešením v kapitole 4. Z práce také není jasné, jak detailně byly navržené struktury ověřeny. Vzhledem k tomu, že nejsou uvedeny podrobnosti k cílové technologii, usuzuji, že struktury byly ověřeny jen simulací s ideálními modely, což na diplomovou práci považuji za nedostatečné. Na konci práce mi chybí porovnání výhod a nevýhod jednotlivých struktur z hlediska plochy na čipu / rychlosti testování / počtu vývodů. Celkový dojem z předložené práce je nevalný, praktické části je věnováno málo prostoru, dosažené výsledky nejsou dosatečně prezentovány a prokázány. Vzhledem k výše uvedenému navrhuji hodnocení E/50 bodů podmíněné doplněním chybějících informací (viz. otázky oponenta) v rámci obhajoby práce.

Navrhovaná známka
E
Body
50

Otázky

eVSKP id 102961