Now showing items 1-2 of 2

  • Analýza bipolárních tranzistorů s izolovaným hradlem 

    Karlovský, Juraj
    Táto práca sa zaoberá výberom a optimalizáciou vhodných analytických metód pre charakte-rizáciu TIGBT (Trench Insulated Gate Bipolar Transistor, bipolárny tranzistor s izolovaným trench hradlom) štruktúr s použitím metód ...
  • Příprava řezů vzorků a jejich analýza metodou SIMS 

    Karlovský, Juraj
    Táto práca sa zaoberá možnosťami štúdia polovodičových súčastok pomocou metódy SIMS s dôrazom na testovanie rôznych parametrov merania a rôznych spôsobov prípravy vzoriek. V rámci tejto práce bol navrhnutý a otestovaný ...