Nanoparticles are often measured using atomic force microscopy or other scanning probe microscopy methods. For isolated nanoparticles on flat substrates, this is a relatively easy task. However, in real situations, we often ...

Práce je zaměřena na studium luminiscence atomárně tenkých vrstev chalkogenidů přechodných kovů (např. sulfid molybdeničitý MoS2). V experimentální části se věnuje připravě atomárně tenké vrstvy polovodivých chalkogenidů ...

Na základě Beckmannovy-Kirchhoffovy skalární teorie rozptylu elektromagnetického záření byl odvozen výraz pro komplexní amplitudu světelné vlny rozptýlené z drsného povrchu. Tento výsledek byl použit pro vytvoření numerického ...

Předkládaná diplomová práce je zaměřena na přípravu a charakterizaci tenkých vrstev plazmových polymerů na bázi monomeru tetravinylsilanu (TVS). Vzorky byly připraveny v pulzním i kontinuálním režimu plazmového výboje za ...

Disertační práce se zabývá studiem povrchových vlastností jedno a vícevrstvých filmů deponovaných z vinyltriethoxysilanových a tetravinylsilanových monomerů. Zabývá se také charakterizací adheze jednovrstvých filmů z ...

Disertační práce je zaměřena na vývoj rastrovacích sondových mikroskopů. Popisuje ná- vrh a vývoj modulární řídicí elektroniky, aby mohla být využita u více mikroskopů SPM. Řídicí elektronika se sestává ze stabilizovaného ...