Browsing by Author "Klapetek, Petr"
Now showing items 1-16 of 16
-
Atomic force microscopy analysis of nanoparticles in non-ideal conditions
Klapetek, Petr; Valtr, Miroslav; Nečas, David; Salyk, Ota; Dzik, Petr (Springer Open, 2011-08-30)Nanoparticles are often measured using atomic force microscopy or other scanning probe microscopy methods. For isolated nanoparticles on flat substrates, this is a relatively easy task. However, in real situations, we often ... -
Charakterizace adheze tenkých vrstev plazmových polymerů
Pálesch, ErikDiplomová práca sa zaoberá charakterizáciou adhézie tenkých vrstiev plazmových polymérov na plošných kremíkových substrátoch. Použité vzorky zahrňovali organosilikonové filmy na bázi monoméru tetravinylsilánu pripravené ... -
Konstrukce nízkoteplotních ultravakuových rastrovacích sondových mikroskopů
Pavera, MichalPředkládaná práce se zabývá vývojem rastrovacích sondových mikroskopů. Jsou specifikovány mechanické požadavky na mikroskop pro měření metodou rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) a mikroskopie atomárních sil (AFM) v ... -
Luminiscence polovodičů studovaná rastrovací optickou mikroskopií v blízkém poli
Těšík, JanPráce je zaměřena na studium luminiscence atomárně tenkých vrstev chalkogenidů přechodných kovů (např. sulfid molybdeničitý MoS2). V experimentální části se věnuje připravě atomárně tenké vrstvy polovodivých chalkogenidů ... -
Návrh a realizace zobrazovacího reflektometru 2. generace a jeho aplikace v optické analýze tenkých vrstev
Vodák, JiříPráce se zabývá technikou zobrazovací spektroskopické reflektometrie vyvíjenou na Ústavu fyzikálního inženýrství Vysokého učení technického v Brně. Jedná se o techniku vhodnou k charakterizaci vzorků neuniformních podél ... -
Numerické modelování rozptylu laserového světla z drsných povrchů
Šulc, VáclavNa základě Beckmannovy-Kirchhoffovy skalární teorie rozptylu elektromagnetického záření byl odvozen výraz pro komplexní amplitudu světelné vlny rozptýlené z drsného povrchu. Tento výsledek byl použit pro vytvoření numerického ... -
Optical Properties of Oxidized Plasma-Polymerized Organosilicones and Their Correlation with Mechanical and Chemical Parameters
Čechalová, Božena; Bránecký, Martin; Klapetek, Petr; Čech, Vladimír (MDPI, 2019-02-12)Čistý tetravinylsilan a jeho směsi s kyslíkem byly použity k depozici oxidovaných plazmových polymerních filmů při různém efektivním výkonu (0,1-10 W) a různých kyslíkových frakcích (0-0,71) za použití RF pulzní plazmy. ... -
Povrchová analýza nanokompozitu xGnP/PEI
Červenka, JiříTato Diplomová práce se zabývá povrchovou analýzou nanokompozitní folie polyetherimidu (PEI) vyztuženého exfoliovanými grafitickými nanodestičkami (xGnP). Analyzovány byly take vzorky nevyztužené PEI folie a samostatné ... -
Povrchová topografie a mechanické vlastnosti tenkých vrstev na bázi tetravinylsilanu
Plichta, TomášPředkládaná diplomová práce je zaměřena na přípravu a charakterizaci tenkých vrstev plazmových polymerů na bázi monomeru tetravinylsilanu (TVS). Vzorky byly připraveny v pulzním i kontinuálním režimu plazmového výboje za ... -
Povrchové a mechanické vlastnosti a-CSi:H a a-CSiO:H vrstev
Plichta, TomášDizertační práce se zabývá přípravou a charakterizací tenkých a-CSi:H a a-CSiO:H vrstev připravených pomocí plazmochemické depozice z plynné fáze (PECVD). Tetravinylsilan (TVS) a jeho směsi s argonem a kyslíkem byly použity ... -
Povrchové a mechanické vlastnosti tenkých vrstev
Pálesch, ErikDizertačná práca sa zaoberá štúdiom morfológie a mechanických vlastností tenkých vrstiev plazmových polymérov na bázi tetravinylsilánu a jeho zmesí s kyslíkom a argónom. Vrstvy boli pripravené na substrátoch z kremíku a ... -
Studium povrchů tenkovrstvých materiálů
Trivedi, Rutul RajendraDisertační práce se zabývá studiem povrchových vlastností jedno a vícevrstvých filmů deponovaných z vinyltriethoxysilanových a tetravinylsilanových monomerů. Zabývá se také charakterizací adheze jednovrstvých filmů z ... -
Úprava konstrukce zařízení pro měření rozptylu laserového světla z drsných povrchů
Jaworková, MagdalenaTato diplomová práce se zabývá konstrukční úpravou detekční části laboratorního přístroje pro měření topografie drsných povrchů – laserového goniometrického skaterometr (SM II). Konstrukční úprava vychází ze záměny doposud ... -
Vliv prostorového omezení na vlastnosti metamagnetických nanostruktur
Jaskowiec, JiříSilné prostorové omezení materiálů způsobuje jejich nové vlastnosti, které mohou najit uplatnění v mnoha vědeckých i technických odvětvích. Snaha zmenšit velikosti součástek, zvětšit hustotu zápisu a zefektivnit procesy ... -
Využití interferometrie v VT UHV SPM
Šulc, DaliborDisertační práce je zaměřena na vývoj rastrovacích sondových mikroskopů. Popisuje ná- vrh a vývoj modulární řídicí elektroniky, aby mohla být využita u více mikroskopů SPM. Řídicí elektronika se sestává ze stabilizovaného ... -
Využití kovové sondy pro ovládání optických procesů a zobrazování v blízkém poli
Gallina, PavelHlavním předmětem této diplomové práce jsou elektromagnetické simulace pomocí metody konečných prvků (FEM) k vyšetření vlivu grafenu na hrotem zesílenou Ramanovu spektroskopii (TERS) a povrchem zesílenou infračervenou ...