Now showing items 1-3 of 3

  • 2D a 3D analýza polovodičových struktur metodou SIMS 

    Vařeka, Karel
    Chemická analýza polovodičových struktur pomocí metody SIMS je hlavní náplní této bakalářské práce. Umožňuje hloubkové profilování a vytváření 2D či 3D snímků materiálů. Během zkoumání čipu z polovodiče TIGBT dochází k ...
  • Analýza bipolárních tranzistorů s izolovaným hradlem 

    Karlovský, Juraj
    Táto práca sa zaoberá výberom a optimalizáciou vhodných analytických metód pre charakte-rizáciu TIGBT (Trench Insulated Gate Bipolar Transistor, bipolárny tranzistor s izolovaným trench hradlom) štruktúr s použitím metód ...
  • Příprava řezů vzorků a jejich analýza metodou SIMS 

    Karlovský, Juraj
    Táto práca sa zaoberá možnosťami štúdia polovodičových súčastok pomocou metódy SIMS s dôrazom na testovanie rôznych parametrov merania a rôznych spôsobov prípravy vzoriek. V rámci tejto práce bol navrhnutý a otestovaný ...