Now showing items 1-2 of 2

  • Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM) 

    Pagáčová, Lenka
    Bakalářská práce se zabývá charakterizací nanostruktur mikroskopií blízkého pole. Uvádí fyzikální principy, na kterých tato metoda pracuje a popisuje experimentální uspořádání mikroskopie SNOM. Dále se zabývá charakterizací ...
  • Lokální charakterizace elektronických součástek 

    Müller, Pavel
    Vývoj mikro a nano elektroniky a nanooptiky si vyžaduje nové charakterizační techniky k zajištění kvality navrhovaných součástek. Práce popisuje použití skenovacího optického mikroskopu v blízkém poli (SNOM) v rozměrové ...