Show simple item record

Diagnostics of semiconductors properties

dc.contributor.advisorFrk, Martincs
dc.contributor.authorŠeliga, Ladislavcs
dc.date.accessioned2018-10-29T17:38:16Z
dc.date.available2018-10-29T17:38:16Z
dc.date.created2012cs
dc.identifier.citationŠELIGA, L. Diagnostika vlastností polovodičových materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.cs
dc.identifier.other54588cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/11365
dc.description.abstractTato práce se zabývá popisem základních vlastností polovodičových materiálů a metodami měření vlastností polovodiče. V první části práce jsou rozebrány elementární polovodiče, polovodičové sloučeniny a pásová struktura. V další části je popsáno vedení proudu v polovodičích, metody měření rezistivity. Práce je zaměřena na měření driftové pohyblivosti minoritních nosičů náboje pomocí metody Haynes-Shockley pro křemíkový vzorek polovodiče, vytvoření automatizovaného pracoviště ve vývojovém prostředí VEE Pro a měření rezistivity křemíkových vzorků.cs
dc.description.abstractThis thesis describes the basic properties of semiconductor materials and methods of their measuring. In the first part of this work are discussed elemental semiconductors, semiconductor compounds and the band structure. The next section describes current conduction in semiconductors, methods for measuring resistivity. This work is focused on the measuring drift mobility of minority charge carriers using the Haynes-Shockley method for a sample of silicon semiconductor, the creation of automated workplace in the development environment VEE Pro and resistivity measurements of silicon samples.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectPolovodičcs
dc.subjectměřicí metodycs
dc.subjectpohyblivostcs
dc.subjectmetoda Haynes-Shockleycs
dc.subjectkonduktivitacs
dc.subjectSemiconductoren
dc.subjectmeasurement methodsen
dc.subjectmobilityen
dc.subjectHaynes-Shockley methoden
dc.subjectconductivityen
dc.titleDiagnostika vlastností polovodičových materiálůcs
dc.title.alternativeDiagnostics of semiconductors propertiesen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2012-06-11cs
dcterms.modified2012-06-13-08:05:43cs
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid54588en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2019.06.17 14:22:07en
sync.item.modts2019.05.18 09:18:09en
dc.contributor.refereeRozsívalová, Zdenkacs
dc.description.markAcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record