Zařízení pro testování digitálních obvodů
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
E
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem zařízení určené na testování digitálních obvodů, především logických hradel a operačních zesilovačů. Toto zařízení bude využíváno laboratorních cvičeních, takže bude kontrolovat funkční stav součástek. Zařízení bude používat k zobrazení LCD display, pomocí něhož bude komunikovat s uživatelem a bude umožňovat připojení k osobnímu počítači přes USB sběrnici.
This bachelor’s thesis deals with a device designed for testing digital circuits, especially logic gates and operational amplifiers. This equipment will be used by laboratory exercises, so it will check the operational status of components. The unit will used to display LCD, which will help interact with and will enable connect to PC via the USB bus.
This bachelor’s thesis deals with a device designed for testing digital circuits, especially logic gates and operational amplifiers. This equipment will be used by laboratory exercises, so it will check the operational status of components. The unit will used to display LCD, which will help interact with and will enable connect to PC via the USB bus.
Description
Citation
URBÁNEK, P. Zařízení pro testování digitálních obvodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika a technologie
Comittee
prof. Ing. Dalibor Biolek, CSc. (předseda)
doc. Ing. Vladimír Kolařík, Ph.D. (místopředseda)
doc. Ing. Jaromír Hubálek, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D. (člen)
Ing. Jiří Stehlík, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Petr Křivík, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2011-06-14
Defence
Student seznámil komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl následující dotazy.
Existuje i jiná realizace navrženého zařízení než na nepájivém kontaktním poli? Pokud ano, můžete ji ukázat komisi a předvést praktickou ukázku funkce?
Jakým způsobem jsou generovány testovací vektory pro testování digitálních obvodů?
Jaké vstupní a výstupní veličiny porovnáváte při testování OZ? Jak zařízení vyhodnocuje, že součástka je poškozená?
Co je publikace [10]? Skutečně obsahuje všechny informace, které z ní citujete?
Víte, proč dioda zapojená k relé chrání tranzistor?
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení