Nejistoty a kompatibilita měření
Uncertainty and Compatibility in Measurement
Author
Advisor
Havlíková, MarieReferee
Zavřel, JiříGrade
AAltmetrics
Metadata
Show full item recordAbstract
Tato práce se zabývá problematikou nejistot měření při měření odporů a indukčností. Dále se věnuje zpracováním obecných postupů pro určení nejistot měření s použitím měřicích přístrojů Agilent 4263B, Tesla BM507 a Tesla BM591 u zmíněných druhů měření. Bakalářská práce popisuje možné zdroje nejistot, které se mohou vyskytnout u těchto přístrojů. Popisuje rovněž praktické příklady měření s etalonem odporu a indukčnosti se zmíněnými měřicími přístroji a následně vyhodnocuje kompatibilitu těchto měření. This work is concerning the matter of resistor and inductance measurement uncertainty. It addresses the elaboration of general measurement uncertainty processes for the measurements mentioned above using Agilent 4263B, Tesla BM507 and Tesla BM591 measurement instruments. This bachelor’s thesis describes possible sources of measurement uncertainty that might arise from the use of these measurement instruments. It also describes practical examples of resistivity and induction standard measurement projects using these measurement instruments followed by a compatibility evaluation of these measurements.
Keywords
Nejistoty měření, zdroje nejistot, kompatibilita měření, měření odporu, měřeni indukčnosti, Agilent 4263B, Tesla BM507, Tesla BM591., Uncertainty measurement, sources of uncertainty, compatibility measurement, resistivity measurement, inductance measurement, Agilent 4263B, Tesla BM507, Tesla BM591.Language
čeština (Czech)Study brunch
Automatizační a měřicí technikaComposition of Committee
plk. gšt. prof. Dr. Ing. Alexandr Štefek, Dr. (předseda) doc. Ing. Petr Blaha, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Zdeněk Bradáč, Ph.D. (člen) Ing. Marie Havlíková, Ph.D. (člen) Ing. Radek Štohl, Ph.D. (člen) Ing. Soběslav Valach (člen)Date of defence
2009-06-16Process of defence
Student obhájil bakalářskou práci.Result of the defence
práce byla úspěšně obhájenaPersistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/13636Source
KVAPIL, J. Nejistoty a kompatibilita měření [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.Collections
- 2009 [609]
Citace PRO
Related items
Showing items related by title, author, creator and subject.
-
Metodika zabezpečování optimální přesnosti měření v souladu s metrologickou konfirmací
Frank, PetrPráce se zabývá problematikou vyjadřování a zabezpečování přesnosti měření. Toto téma zahrnuje komplexní analýzu procesu vyjadřování nejistoty měření, návrhu kalibračních intervalů a tvorbu konfirmačního systému. Základ ... -
Využití přesného kapacitního mostu pro měření indukčnosti
Uher, MiroslavDiplomová práce se zabývá možnostmi měření indukčnosti na přesném kapacitním mostu AH 2500E. Pro přesná měření indukčností využitelná v metrologii neexistují vhodné přístroje. Měření indukčností lze realizovat čtyřmi ... -
Nejistoty přesných délkových měření
Šrámek, JanDiplomová práce má za úkol seznámit čtenáře, který se zajímá o problematiku nejistot délko-vých měření, s praktickou stránkou řešení těchto nejistot u jednoho velmi často používaného kalibračního postupu měření na délkoměru ...