• čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • українська 
    • čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • Ввійти
Перегляд матеріалів 
  •   Головна сторінка DSpace
  • Sborníky z konferencí
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • Konference Student EEICT
  • Student EEICT 2018
  • Перегляд матеріалів
  •   Головна сторінка DSpace
  • Sborníky z konferencí
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • Konference Student EEICT
  • Student EEICT 2018
  • Перегляд матеріалів
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Local Isolation Of Microscale Defective Areas In Monocrysline Silicon Solar Cells

Thumbnail
Переглянути
eeict2018-518.pdf (972.8Kb)
Дата
2018
Автор
Gajdos, Adam
Altmetrics
Metadata
Показати повний опис матеріалу
Короткий опис(реферат)
This article is aimed on characterization of silicon solar cells microstructural inhomogeneities. To detect inhomogeneity or imperfection, reverse biased current voltage (I-V) measurement is used. These imperfections in some cases may cause avalanche type of breakdown, that can be visible in I-V curve. Therefore, the fact that certain imperfections emit light is used for localization needs. Raw localization is provided by electroluminescence (EL) method. Near-field scanning microscopy (SNOM) combined with photomultiplier tube is used for microscale localization. Both methods are done in reverse bias. Isolation of inhomogeneity by focused ion beam (FIB) is avoiding leakage current flow through it.
Keywords
Solar cell, FIB, SEM, SNOM, silicon, electroluminescence
URI
http://hdl.handle.net/11012/138288
Document type
Peer reviewed
Document version
Final PDF
Source
Proceedings of the 24th Conference STUDENT EEICT 2018. s. 518-522. ISBN 978-80-214-5614-3
http://www.feec.vutbr.cz/EEICT/
Collections
  • Student EEICT 2018 [157]
Citace PRO

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок | Theme by @mire NV
 

 

Перегляд

Всі матеріалиФонди та колекціїЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТемиКолекціяЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТеми

Мій профіль

ВвійтиЗареєструватися

Статистика

View Usage Statistics

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок | Theme by @mire NV