• čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • English 
    • čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • Login
View Item 
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2008
  • View Item
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2008
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Měření vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry

Characteristic measuremens of thick-film RC elements with distributed parameters

Thumbnail
View/Open
review_15764.html (8.455Kb)
final-thesis.pdf (1.923Mb)
Author
Kořínková, Ksenia
Advisor
Szendiuch, Ivan
Referee
Švecová, Olga
Grade
D
Altmetrics
Metadata
Show full item record
Abstract
Předkládaná práce se zabývá analýzou vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry. Teoretická část řeší návrh RC prvků, na nějž navazuje jejich realizace. Součástí práce je měření odporů a zjištění závislosti rozptylu daných odporů s různým počtem vrstev struktur v závislosti na jejich vypalovacích režimech. Tato bakalářská práce souvisí s bakalářskou prací "Vlastnosti 3D prvků realizovaných tlustovrstvou technologií".
 
The following work is focused on properties analysis of thick film RC elements with distributed parameters. The theoretical part offers projecting of RC elements, with their next realization. There are the following work parts: the resistance measurement and determination of the given resistances dependence scattering with different film number of the structures depending on their burning conditions. This bachelor's thesis is closed to the bachelor's work "Properties of Thick Film Multilayer Component".
 
Keywords
RC struktura, RC prvky, rozložené parametry, tlustovrstvé prvky, vodivá vrstva, dielektrická vrstva, odporová vrstva., RC structure, RC elements, distributed parameters, thicklayer elements, conductive level, dielectric level, resistance level.
Language
čeština (Czech)
Study brunch
Mikroelektronika a technologie
Composition of Committee
doc. Ing. Ivan Szendiuch, CSc. (předseda) Ing. Karel Pospíšil (místopředseda) doc. Ing. Radovan Novotný, Ph.D. (člen) doc. Ing. Petr Křivík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jaroslav Kadlec, Ph.D. (člen)
Date of defence
2008-06-13
Process of defence
Studentka seznámila státní zkušební komisi s podstatnou částí své závěrečné práce a zodpověděla otázky a připomínky oponenta. Otázky: Měření probíhalo jednorázově nebo ve více vlnách. Jaké byly vnější parametry při měření. Měřila se kapacita.
Result of the defence
práce byla úspěšně obhájena
Persistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/14486
Source
KOŘÍNKOVÁ, K. Měření vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008.
Collections
  • 2008 [568]
Citace PRO

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV
 

 

Browse

All of repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV