Studium optických vlastností tenkých vrstev oxidu titaničitého
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstract
Bakalárska práca sa zameriava na oboznámenie sa s metódami charakterizácie optických vlastností tenkých vrstiev oxidu titaničitého pripravených materiálovou tlačou na sodnovápentom skle. Ide hlavne o UV-VIS spektroskopiu a spektroskopickú elipsometriu, pomocou ktorej boli určené indexy lomu a extinkčné koeficienty vzoriek pre rozsah vlnových dĺžok 200–850 nm a hrúbky vrstiev. Podáva tiež prehľad ďalších možností prípravy tenkých vrstiev, ako aj vybraných metód ich ďalšej charakterizácie, konkrétne optickej mikroskopie, pomocou ktorej bol povrch skúmaných vzoriek určený za drsný a mechanickej profilometrie, ktorou boli určené hrúbky vrstiev na (80 – 250) nm.
The bachelor thesis is focused on the acquirement of thin film layers optical properties characterisation methods, done on inject printed titanium dioxide layers deposed on soda lime glass. Its main emphasis was on spectroscopic ellipsometry that was used to determine the refractive indices and the extinction coefficients of the samples in range of wavelengths from 200 nm to 850 nm and layer thickness. This thesis also shows another options of thin film layers preparation and several other methods to characterise properties of samples, specifically optical microscopy, used to set sample boundary as rough, mechanical profilometry which defined thickness of layers in range of 80 nm for the most thin sample to 250 nm for the most thick sample, and UV-VIS spectroscopy.
The bachelor thesis is focused on the acquirement of thin film layers optical properties characterisation methods, done on inject printed titanium dioxide layers deposed on soda lime glass. Its main emphasis was on spectroscopic ellipsometry that was used to determine the refractive indices and the extinction coefficients of the samples in range of wavelengths from 200 nm to 850 nm and layer thickness. This thesis also shows another options of thin film layers preparation and several other methods to characterise properties of samples, specifically optical microscopy, used to set sample boundary as rough, mechanical profilometry which defined thickness of layers in range of 80 nm for the most thin sample to 250 nm for the most thick sample, and UV-VIS spectroscopy.
Description
Keywords
tenké vrstvy, oxid titaničitý, materiálová tlač, optické vlastnosti, spektroskopická elipsometria, UV-VIS spektroskopia, profilometria, optická mikroskopia, thin film layers, titanium dioxide, inject printing, optical properties, spectroscopic ellipsometry, UV-VIS spectroscopy, profilometry, optical microscopy
Citation
RACKOVSKÁ, A. Studium optických vlastností tenkých vrstev oxidu titaničitého [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2019.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
sk
Study field
Chemie, technologie a vlastnosti materiálů
Comittee
doc. Ing. František Šoukal, Ph.D. (předseda)
prof. RNDr. Josef Jančář, CSc. (člen)
prof. Ing. Ladislav Omelka, DrSc. (člen)
prof. Ing. Petr Ptáček, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Tomáš Svěrák, CSc. (člen)
doc. Ing. Lucy Vojtová, Ph.D. (člen)
Ing. Lukáš Tvrdík, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2019-06-11
Defence
1. Studentka seznámila členy komise s teoretickými základy a cíli své bakalářské práce a velmi přehledně přednesla výsledky, kterých dosáhla v experimentální části.2. Byly přečteny posudky na bakalářskou práci.3. Studentka akceptovala všechny připomínky oponenta a na všechny otázky odpověděla v plné šíři.4. Diskuse: Členové komise vznesly několik přípomínek a otázek k práci. Studentka výborně reagovala na všechny připomínky a otázky vzešlé z diskuze a prokázala výbornou orientaci v daném tématu.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení