Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM)

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
B
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Bakalářská práce se zabývá charakterizací nanostruktur mikroskopií blízkého pole. Uvádí fyzikální principy, na kterých tato metoda pracuje a popisuje experimentální uspořádání mikroskopie SNOM. Dále se zabývá charakterizací litografických struktur připravených metodou fokusovaného iontového svazku a stanovením optického koeficientu transmise.
The bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method.
Description
Citation
PAGÁČOVÁ, L. Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM) [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2010-06-17
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO