Systém pro počítačové měření charakteristik tranzistorů

Abstract

Práce se zabývá metodami měření charakteristik tranzistorů ve třech základních zapojeních. U každého ze zapojení je uveden příklad charakteristiky získané ze simulátoru. Z výsledných charakteristik jsou odečteny diferenční parametry, které popisují linearizované náhradní schéma tranzistoru. Pro automatizaci procesu získávání charakteristik je dalším krokem této práce návrh a stavba analyzátoru. V jednotlivých kapitolách je podrobně popsána funkce jednotlivých částí hardwaru. Pro ovládání analyzátoru byla vytvořena aplikace pro počítač, která tak plní funkci uživatelského rozhraní. Závěrem práce je návod pro demonstrační laboratorní úlohu.

This thesis is focused on methods of measuring the characteristics of transistors in three basic connections. There is an example of the characteristic obtained from the simulator for each of the connections. Differential parameters are obtained from the resulting characteristics. These parameters describe a linearized equivalent circuit diagram of the transistor. To automate the process of obtaining characteristics, the next step of this work is the design and construction of the analyzer. The function of individual parts of the hardware is described in detail in the individual chapters. A computer application was created to control the analyzer. This application serves as the user interface. The conclusion of this thesis is a guide for a demonstration laboratory task.