Show simple item record

System for computer measurement of transistor characteristics

dc.contributor.advisorBrančík, Lubomírcs
dc.contributor.authorKrásl, Martincs
dc.date.accessioned2020-06-24T07:57:06Z
dc.date.available2020-06-24T07:57:06Z
dc.date.created2020cs
dc.identifier.citationKRÁSL, M. Systém pro počítačové měření charakteristik tranzistorů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2020.cs
dc.identifier.other126100cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/190295
dc.description.abstractPráce se zabývá metodami měření charakteristik tranzistorů ve třech základních zapojeních. U každého ze zapojení je uveden příklad charakteristiky získané ze simulátoru. Z výsledných charakteristik jsou odečteny diferenční parametry, které popisují linearizované náhradní schéma tranzistoru. Pro automatizaci procesu získávání charakteristik je dalším krokem této práce návrh a stavba analyzátoru. V jednotlivých kapitolách je podrobně popsána funkce jednotlivých částí hardwaru. Pro ovládání analyzátoru byla vytvořena aplikace pro počítač, která tak plní funkci uživatelského rozhraní. Závěrem práce je návod pro demonstrační laboratorní úlohu.cs
dc.description.abstractThis thesis is focused on methods of measuring the characteristics of transistors in three basic connections. There is an example of the characteristic obtained from the simulator for each of the connections. Differential parameters are obtained from the resulting characteristics. These parameters describe a linearized equivalent circuit diagram of the transistor. To automate the process of obtaining characteristics, the next step of this work is the design and construction of the analyzer. The function of individual parts of the hardware is described in detail in the individual chapters. A computer application was created to control the analyzer. This application serves as the user interface. The conclusion of this thesis is a guide for a demonstration laboratory task.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectbipolární tranzistorcs
dc.subjectcharakteristikycs
dc.subjectanalýzacs
dc.subjectměřicí zdrojcs
dc.subjectdiferenční parametrycs
dc.subjectbipolar transistoren
dc.subjectcharacteristicsen
dc.subjectanalysisen
dc.subjectmeasuring supplyen
dc.subjectdifferential parametersen
dc.titleSystém pro počítačové měření charakteristik tranzistorůcs
dc.title.alternativeSystem for computer measurement of transistor characteristicsen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2020-06-23cs
dcterms.modified2020-06-25-08:22:42cs
thesis.disciplinebez specializacecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav radioelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid126100en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.22 12:55:28en
sync.item.modts2021.11.22 12:24:45en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.contributor.refereeŠotner, Romancs
dc.description.markBcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeeprof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Tomáš Götthans, Ph.D. (člen) Ing. Peter Barcík, Ph.D. (člen) Ing. Filip Záplata, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent prezentuje výsledky své bakalářské práce. Odpovídá na dotazy komise. Prof. Kolka zmiňuje chybné odpovědi studenta na otázky oponenta v prezentaci. Student nesprávně udává modely tranzistorů. Ing. Záplata: Proč jste využil notebookový zdroj? Jak jste navinul trafo? Prof. Kolka: Rozsah měracích napětí? Jaké ADC jste používal? Používal jste průměrování?cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programElektronika a komunikační technologiecs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record