Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí
Scanning probe microscopy scanner with high resonant frequency
Author
Advisor
Pavera, MichalReferee
Dostál, ZbyněkGrade
BAltmetrics
Metadata
Show full item recordAbstract
Tato práce se zabývá návrhem konstrukce skeneru rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí. První část práce je zaměřena na teorii jako princip mikroskopie atomárních sil, charakteristiku funkce skeneru a jeho vlastností. V druhé částí je popsán postupný vývoj nového mikroskopu. Nejdříve jsou představeny mechanické simulace používané k určení vlastností skenerů. Dále se práce věnuje samotnému návrhu nejdříve pro osy x, y a následně i pro osu z. Na závěr je představen výsledný návrh trojosého skeneru s vyšší rezonanční frekvencí. The thesis deals with the design of the scanning probe microscopy scanner with a higher resonant frequency. The first part of the thesis is focused on theory as the principle of atomic force microscopy, function of the scanner and its properties. The second part describes the gradual development of a new microscope. The mechanical simulations used to determine the properties of scanners are introduced first. Furthermore, the thesis deals with the design for the x, y axis and then also for the z axis. In conclusion, the final design of a three-axis scanner with a higher resonant frequency is presented.
Keywords
SPM, AFM, piezokeramika, piezo skener, SPM, AFM, piezoceramics, piezo scannerLanguage
čeština (Czech)Study brunch
bez specializaceComposition of Committee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) doc. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)Date of defence
2022-06-15Process of defence
Po otázkách oponenta bylo diskutováno Piezoelektrické materiály. Student na otázku odpověděl.Result of the defence
práce byla úspěšně obhájenaPersistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/205879Source
KRUPA, M. Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.Collections
- 2022 [408]