Browsing 2008 by Subject "mikroskopie v optickém blízkém poli (SNOM)"
Now showing items 1-1 of 1
-
Alternating-Current Thin-Film Electroluminescent Device Characterization
Jádrem této disertační práce bylo studovat optické a elektrické charakteristiky tenkovrstvých elektroluminiscenčních součástek řízených střídavým proudem (ACTFEL) a zejména vliv procesu stárnutí luminiforů na jejich optické ...