Show simple item record

Study of beta phase in Al-Mg-Si alloys by means of unconventional methods of electron microscopy

dc.contributor.advisorMikmeková, Šárkacs
dc.contributor.authorLigas, Alešcs
dc.date.accessioned2019-05-17T06:08:27Z
dc.date.available2019-05-17T06:08:27Z
dc.date.created2014cs
dc.identifier.citationLIGAS, A. Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2014.cs
dc.identifier.other72923cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/32796
dc.description.abstractHliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický.cs
dc.description.abstractAluminium Al-Mg-Si alloys are the most commonly used in automotive and construction industry. Hexagonal ’-phase is one of the metastable phases occured in this type of alloys. Unlike classic square -phase, this ’-phase is characterized by different crystalographic orientation to the matrix and shape. Standard method used for identification of aluminium alloys is scanning electron microscopy (SEM), because of its quickness and efficiency, but in case of very thin or damaged structures (as a result of metallographic process) it’s insufficient. Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) can be appropriate for identification of mentioned precipitates due to its physical principles resulting in many advantages compared to SEM. So the most important benefits are interaction volume reduction (which leads to improvement of surface sensitivity), increase of material contrast (ability to change matrix / precipitates contrast) as well as crystalographic contrast.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectElektronová mikroskopiecs
dc.subjectnízkonapěťová elektronová mikroskopiecs
dc.subjectkatodová čočkacs
dc.subjectAl-Mg-Sics
dc.subjectElectron microscopyen
dc.subjectlow-voltage scanning electron microscopyen
dc.subjectcathode lensen
dc.subjectSLEEMen
dc.subjectAl-Mg-Sien
dc.titleStudium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopiecs
dc.title.alternativeStudy of beta phase in Al-Mg-Si alloys by means of unconventional methods of electron microscopyen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2014-06-16cs
dcterms.modified2014-06-25-08:14:59cs
thesis.disciplineMateriálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav materiálových věd a inženýrstvícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid72923en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.03.31 09:05:59en
sync.item.modts2020.03.31 05:02:48en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
dc.contributor.refereeJulišová, Martinacs
dc.description.markCcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
but.committeeprof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) prof. Ing. Ivo Dlouhý, CSc. (místopředseda) prof. Ing. Rudolf Foret, CSc. (člen) prof. RNDr. Karel Maca, Dr. (člen) prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record