Show simple item record

Surface analysis of xGnP/PEI nanocomposite

dc.contributor.advisorČech, Vladimíren
dc.contributor.authorČervenka, Jiříen
dc.date.accessioned2019-05-17T06:13:46Z
dc.date.available2019-05-17T06:13:46Z
dc.date.created2012cs
dc.identifier.citationČERVENKA, J. Povrchová analýza nanokompozitu xGnP/PEI [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2012.cs
dc.identifier.other41458cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/4683
dc.description.abstractTato Diplomová práce se zabývá povrchovou analýzou nanokompozitní folie polyetherimidu (PEI) vyztuženého exfoliovanými grafitickými nanodestičkami (xGnP). Analyzovány byly take vzorky nevyztužené PEI folie a samostatné nanodestičky. Vzorky nanokompozitu a PEI folie byly plazmaticky leptány s využitím argonového plazmatu po dobu 1, 3 a 10 hod. Skenovací elektronová mikroskopie (SEM) byla použita pro charakterizaci samostatných nanodestiček rozptýlených na křemíkovém substrátu, původních či leptaných vzorků PEI folie a nanokompozitu. Nanodestičky byly identifikovány při povrchu leptané nanokompozitní folie. Mikroskopie atomárních sil (AFM) byla použita pro zobrazení povrchové topografie separovaných nanodestiček a odkrytých destiček při povrchu leptaného kompozitu. Povrchová drsnost (střední kvadratická hodnota, vzdálenost nejnižšího a nejvyššího bodu) leptaného nanokompozitu narůstala s prodlužující se dobou leptání. Akustická mikroskopie atomárních sil (AFAM) byla použita pro charakterizaci elastické anizotropie leptaných kompozitních vzorků. Nanoindentační měření umožnila charakterizaci lokálních mechanických vlastností PEI a nanokompozitních folií.en
dc.description.abstractThis Diploma thesis deals with surface analysis of nanocomposite foil – polyetherimide matrix (PEI) reinforced by exfoliated graphite nanoplatelets (xGnP). The PEI foil without reinforcement and separate xGnP particles were also analysed. Samples of the nanocomposite and the PEI foil were etched for various times by argon plasma. Scanning electron microscopy (SEM) was used to characterize xGnP agglomerates dispersed over silicon wafer and pristine/etched samples of PEI foil and nanocomposite xGnP/PEI foil. Graphite nanoplatelets were identified at surface of etched nanocomposite foil. Atomic force microscopy (AFM) was used for surface topography imaging of separate nanoplatelets and those uncovered at the surface of etched nanocomposite. Surface roughness (root mean square, peak to peak) of etched nanocomposite increased with prolonged etching time. Atomic force acoustic microscopy (AFAM) was used to characterize elastic anisotropy of etched nanocomposite. Nanoindentation measurements were employed to characterize the local mechanical properties of PEI and nanocomposite foils.cs
dc.language.isoencs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta chemickács
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectNanokompoziten
dc.subjectpolyetherimiden
dc.subjectskenovací elektronová mikroskopie (SEM)en
dc.subjectmikroskopie atomární síly (AFM)en
dc.subjectnanoindentaceen
dc.subjectnanovrypová zkouškaen
dc.subjectNanocompositecs
dc.subjectpolyetherimidecs
dc.subjectscanning electron microscopy (SEM)cs
dc.subjectatomic force microscopy (AFM)cs
dc.subjectnanoindentationcs
dc.subjectnanoscratch testcs
dc.titlePovrchová analýza nanokompozitu xGnP/PEIen
dc.title.alternativeSurface analysis of xGnP/PEI nanocompositecs
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2012-06-06cs
dcterms.modified2012-06-06-08:45:34cs
thesis.disciplineChemie, technologie a vlastnosti materiálůcs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. Ústav chemie materiálůcs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid41458en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2019.06.21 06:27:12en
sync.item.modts2019.05.18 23:36:09en
dc.contributor.refereeKlapetek, Petren
dc.description.markAcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record