Show simple item record

Measurement of local characteristics of passive electrical devices

dc.contributor.advisorTománek, Pavelcs
dc.contributor.authorŠikula, Radekcs
dc.date.accessioned2018-10-21T17:40:29Z
dc.date.available2018-10-21T17:40:29Z
dc.date.created2011cs
dc.identifier.citationŠIKULA, R. Měření lokálních charakteristik paasivních elektrických součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.cs
dc.identifier.other40274cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/5089
dc.description.abstractBakalářská práce je zaměřena na nově koncipované lokální měření charakteristik elektrických, případně optoelektrických součástek. S tím, jak se dle Moorova zákona zmenšují rozměry aktivních součástek na čipech, existují i snahy o odpovídající zmenšování pasivních elektrických součástek, při současném zvyšování, nebo alespoň zachování jejich parametrů. Ukazuje se, že problémy zmenšování jsou spojeny s existencí fyzikálních mezí použitých materiálů a konec konců i s nemožností měření lokálních vlastností součástek pomocí klasických elektrických měřicích metod. Právě v oblasti fyzikálních mezí začínají být vážným problémem defekty v materiálech, které při malých rozměrech součástek mohou značně ovlivnit účinnost, výkon, životnost a spolehlivost zařízení. Měření provedená na pasivních i aktivních součástkách vykazují vyšší rozlišovací schopnost defektů na povrchu vybraných součástek než umožňují stávající metody. 1) Z výsledků měření na kondenzátorech vyplývá, že existuje několik možných příčin, proč u nich dochází k průrazům, např. mechanické defekty, nebo přítomnost nečistoty či krystaly oxidu v dielektriku. 2) Měření provedená na fotodiodě umožnila zviditelnit proud minoritních nosičů a zobrazit jejich dobu života. Navíc se ukazuje, že doba života minoritních nosičů pochází hlavně z objemová rekombinace.cs
dc.description.abstractBachelor thesis is focused on the newly conceived local measurement of electrical or photoelectric devices characteristics. According to Moore's law dimensions of active components on the chips diminish. Therefore effort to obtain corresponding reduction of passive electrical components, while improving, or at least maintain their parameters, is also challenged. It turns out that the problems associated with device reducing are connected with existence of physical limits of materials, and ultimately with the impossibility to measure local properties of electrical components using conventional electric methods. Especially in the range of physical limits, a serious problem of defects in materials appears. Due to that the small size components can greatly affect the efficiency, performance, durability and reliability of devices. Measurements made on the passive and active components show a higher resolution of defects on the surface of selected parts than current methods allow. 1) It follows from the results of measurement on capacitors that there are several possible reasons why breakdowns occur, e.g. mechanical defects or the presence of impurities and/ or oxide crystals in the dielectric. 2) Measurements taken at a photodiode allowed visualize minority carriers current, and view their lifetime. Moreover, they also show that the minority carrier lifetime comes mainly from bulk recombination.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectelektrické součástkycs
dc.subjectcharakterizacecs
dc.subjectlokální měřenícs
dc.subjectsondové skenovací mikroskopycs
dc.subjectelectrical componentsen
dc.subjectcharacterizationen
dc.subjectlocal measurementen
dc.subjectscanning probe microscopesen
dc.titleMěření lokálních charakteristik paasivních elektrických součástekcs
dc.title.alternativeMeasurement of local characteristics of passive electrical devicesen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2011-06-14cs
dcterms.modified2011-07-15-10:45:50cs
thesis.disciplineTeleinformatikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav telekomunikacícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid40274en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.03.31 11:57:06en
sync.item.modts2020.03.31 09:53:54en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.contributor.refereeKubánek, Davidcs
dc.description.markAcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeedoc. Ing. Vít Novotný, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Karol Molnár, Ph.D. (místopředseda) Ing. Jiří Přinosil, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Hošek, Ph.D. (člen) Ing. Jan Karásek, Ph.D. (člen) Ing. Martin Sýkora (člen) Ing. Vít Daněček (člen)cs
but.defenceDůkladněji ilustrujte, které místo se na zkoumaném kondenzátoru pozorovalo a proč právě tato část. Jak bylo ověřeno, že se kondenzátor skutečně prorazil na předpokládaném místě (prohlubně na obr. 5.3)? Jak se provádí měření doby života minoritních nosičů?cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record