Zobrazování map kvality křemíkových plátů v reálném čase

Abstract

Cílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém, který dokáže v reálném čase sbírat data z průběhů měření křemíkových plátů. Může se jednat o desítky až stovky měření a data z těchto měření jsou uživatelům vykreslována (taktéž v reálném čase). Práce obsahuje popis procesu výroby a testování integrovaných obvodů. Následně pak návrh architektury systému aplikací, vnitřní architektury serveru a grafického uživatelského rozhraní klientské aplikace. V poslední části je ukázáno, jakým způsobem bylo implementováno vykreslování křemíkových plátů na platformě JavaFX 2.2 a hybridní vícevláknová architektura serveru.

The goal of this bachelor's thesis is to design and implement a software system that can collect real-time data from measurements of silicon wafers. There could be tens or hundreds data sources of measurements and data from these measurements can be rendered (also in real time). This work contains a description of the process of manufacturing and testing of integrated circuits. Subsequently, there is description of system architecture design, interior architecture of real-time server and GUI of client application. In the last section, there is shown how rendering of silicon wafers was implemented on platform JavaFX 2.2 and also implementation of hybrid multi-threading server architecture.