Show simple item record

Web Service for Analysis of Measurement Results of Semiconductor Circuit Elements

dc.contributor.advisorKočí, Radekcs
dc.contributor.authorStřálka, Jancs
dc.date.accessioned2018-05-17T23:23:15Z
dc.date.available2018-05-17T23:23:15Z
dc.date.created2013cs
dc.identifier.citationSTŘÁLKA, J. Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2013.cs
dc.identifier.other79607cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/52880
dc.description.abstractCílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém pro zvýšení výstupní kvality distribuovaných čipů pomocí vyřazování potenciálně vadných čipů. Projekt je zpracován pro firmu ON Semiconductor, výrobce polovodičů v Rožnově pod Radhoštěm. Software je psaný v Javě a architektura je založena na modulech s algoritmy, které se aplikují na mapy výsledků měření polovodičových součástek (wafer mapy). Zpracovávání běží na aplikačním serveru Tomcat, aplikace je řízena přes rozhraní webové služby.cs
dc.description.abstractThe aim of the bachelor thesis is to design and implement software system for increase the output quality of the distributed chips by phasing out potentially defective chips. This project is designed for ON Semiconductor, manufacturer of semiconductors in Rožnov pod Radhoštěm. The software is written in Java and the architecture is based on the modules with algorithms that are applied to measurements map of semiconductor devices (wafer maps). The system runs on Tomcat application server, and the application is managed via web service interface.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectJavacs
dc.subjectweb servicecs
dc.subjectpolovodičecs
dc.subjectdefektivita čipůcs
dc.subjectJavaen
dc.subjectweb serviceen
dc.subjectsemiconductoren
dc.subjectchip defectivityen
dc.titleWebová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástekcs
dc.title.alternativeWeb Service for Analysis of Measurement Results of Semiconductor Circuit Elementsen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2013-06-10cs
dcterms.modified2020-05-10-16:11:25cs
thesis.disciplineInformační technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav inteligentních systémůcs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid79607en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.08 12:59:58en
sync.item.modts2021.11.08 12:28:00en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta informačních technologiícs
dc.contributor.refereePeringer, Petrcs
dc.description.markCcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeedoc. Dr. Ing. Dušan Kolář (předseda) prof. Ing. Martin Drahanský, Ph.D. (místopředseda) Ing. Vladimír Bartík, Ph.D. (člen) Ing. Josef Strnadel, Ph.D. (člen) Ing. Igor Szőke, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se pak seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm " C ". Otázky u obhajoby: Proč je rozhraní třídy WaferMapJr tajné a nemůže být v práci stručně popsáno? Používáte zabezpečené připojení na server? Pokud ano, proč se o tom v textu nezmiňujete?cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programInformační technologiecs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record