Show simple item record

Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)

dc.contributor.advisorDvořák, Petrcs
dc.contributor.authorMajerová, Irenacs
dc.date.accessioned2019-04-04T04:49:45Z
dc.date.available2019-04-04T04:49:45Z
dc.date.created2017cs
dc.identifier.citationMAJEROVÁ, I. Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM) [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017.cs
dc.identifier.other100213cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/65046
dc.description.abstractStudiu optických vlastností 2D materiál je v poslední době soustředěna pozornost široké vědecké komunity pro své možné aplikace v nanofotonice a plazmonice. Tato bakalářská práce se zabývá detekcí fotoluminiscence (PL) 2D materiálu (MoS2) pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Tato PL je excitována v dalekém poli pomocí fokusovaného zeleného laseru a v blízkém poli pomocí interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP). Monovrstvy vloček MoS2 jsou připravovány pomocí mikromechanické exfoliace na různé funkční substráty (kovové i dielektrické). Charakterizace a kvalita připravených monovrstev MoS2 je kontrolována pomocí Ramanovy optické spektroskopie. Dále jsou v práci srovnávána experimentálně získaná optická spektra PL MoS2 detekována v dalekém poli pomocí konfokální optické mikroskopie a v blízkém poli pomocí SNOM aparatury, kde v blízkém poli je pozorována až trojnásobně silnější intenzita PL tohoto 2D materiálu než v dalekém poli.cs
dc.description.abstractA study of the optical properties of 2D materials has recently been the focus of the broad scientific community for its possible applications in nanophotonics and plasmonics. This bachelor thesis deals with the detection of photoluminiscence (PL) of 2D material (MoS2) by means of near-field scanning optical microscopy (SNOM). This PL is excited in the far-field by means of a focused green laser and in the near-field by surface plasmon polariton (SPP) interference. MoS2 flake monolayers are prepared using micromechanical exfoliation on various functional substrates (metal and dielectric). Characterization and quality of MoS2 monolayers is controlled using Raman optical spectroscopy. Furthermore, the experimentally obtained optical spectra of PL MoS2 are compared in a far-field using confocal optical microscopy and in the near-field using SNOM device, where in the near-field is observed a 3 times higher intensity PL of this 2D material than in the far-fielden
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subject2D materiálcs
dc.subjectfotoluminiscencecs
dc.subjectrastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM)cs
dc.subjectMoS2cs
dc.subjectplazmonikacs
dc.subjectinterference povrchových plazmonových polaritonůcs
dc.subjectRamanova spektroskopiecs
dc.subject2D materialen
dc.subjectphotoluminiscenceen
dc.subjectscanning near-field optical microscopy (SNOM)en
dc.subjectMoS2en
dc.subjectplasmonicsen
dc.subjectsurface plasmon polariton interferenceen
dc.subjectRaman spectroscopyen
dc.titleRastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM)cs
dc.title.alternativeScanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)en
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2017-06-09cs
dcterms.modified2017-06-16-13:40:20cs
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid100213en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.03.31 05:03:23en
sync.item.modts2020.03.31 03:04:23en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
dc.contributor.refereeKvapil, Michalcs
dc.description.markAcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record