Analýza pokročilých materiálů a struktur metodou SIMS
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Bakalářská práce se zabývá studiem pokročilých materiálů metodou SIMS a možnostem kvantitativní analýzy pomocí dat získaných z měření. Byla provedena chemická analýza povrchu keramiky s cílem optimalizace podmínek měření. Zbytek práce využívá datový výstup z měření pro popsání vnitřní mikrostruktury materiálu. Pomocí sofistikovaných metod jsou lokalizovány a popsány Si precipitáty ve vrstvě AlSi a ověřena formace fáze MgAl2O4 ve vzorcích keramiky. Dosažení všech stanovených cílů odhaluje potenciál metody SIMS a především možnosti ve zpracování datového výstupu z měření.
Bachelor theasis deals with the study of advanced materials by SIMS method and the possibilities of kvantitative analysis using maesured data. Chemical analysis of the ceramic surface in order to optimize the measurement conditions was performed. The rest of the work uses the data output from the measurement to describe the internal microstructure of the material. Using sophisticated methods, Si precipitates in the AlSi layer are localized and described, and the formation of the MgAl2O4 phase in ceramic samples is confirmed. Achieving all the set goals reveals the potential of the SIMS method and, above all, the possibility of processing the data output from the measurements.
Bachelor theasis deals with the study of advanced materials by SIMS method and the possibilities of kvantitative analysis using maesured data. Chemical analysis of the ceramic surface in order to optimize the measurement conditions was performed. The rest of the work uses the data output from the measurement to describe the internal microstructure of the material. Using sophisticated methods, Si precipitates in the AlSi layer are localized and described, and the formation of the MgAl2O4 phase in ceramic samples is confirmed. Achieving all the set goals reveals the potential of the SIMS method and, above all, the possibility of processing the data output from the measurements.
Description
Citation
HOLEŇÁK, R. Analýza pokročilých materiálů a struktur metodou SIMS [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2017-06-09
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení