Mikroprogramem řízený RAM BIST

Vykydal, Lukáš

Microcode-controlled RAM BIST

Grade

Altmetrics

Metadata

Show full item record

Abstract

Cílem práce je seznámit se s defekty polovodičových pamětí a algoritmy určenými pro je- jich detekci. Následně se práce zabývá návrhem a implementací BIST kontroléru pro test polovodičových pamětí s nízkými nároky na velikost výsledného digitálního bloku.

The goal of this work is to understand types of defects in semiconductor memories and algorithms for their testing. In the second part the work describes design and implementation of programmable BIST controller with small digital block size requirments.

Keywords

testování pamětí, march algoritmy, paměťový BIST, memory testing, march algorithms, memory BIST

Language

čeština (Czech)

Study brunch

Elektronika a sdělovací technika

Composition of Committee

prof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (místopředseda) prof. Ing. Otakar Wilfert, CSc. (člen) Ing. Michal Kubíček, Ph.D. (člen) Ing. Dr. Techn. Vojtěch Derbek (člen) doc. Ing. Ján Šaliga, Ph.D. (člen) Ing. Josef Vochyán, Ph.D. (člen)

Date of defence

2017-06-06

Process of defence

Student prezentuje výsledky a postupy řešení své diplomové práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.

Result of the defence

práce byla úspěšně obhájena

Persistent identifier

http://hdl.handle.net/11012/65289

Source

VYKYDAL, L. Mikroprogramem řízený RAM BIST [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.

Collections

2017 [389]