• čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • čeština 
    • čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   Domovská stránka repozitáře
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2011
  • Zobrazit záznam
  •   Domovská stránka repozitáře
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2011
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Testování analogových obvodů

Analog Circuits Faults Diagnosis

Thumbnail
Zobrazit/otevřít
review_39274.html (6.847Kb)
final-thesis.pdf (1.136Mb)
Autor
Váško, Ondřej
Vedoucí práce
Kincl, Zdeněk
Oponent
Kolka, Zdeněk
Klasifikace
E
Altmetrics
Metadata
Zobrazit celý záznam
Abstrakt
Hlavním cílem práce je seznámit se problematikou testování analogových lineárních obvodů z hlediska diagnostikování jednotlivých součástek, u kterých chceme ověřit jejich nominální hodnotu. Pro práci bylo nutné se seznámit s metodami popisu lineárních obvodů pomocí metody uzlových napětí a tvorbou přenosových obvodových funkcí. Při realizaci testování je využíváno programu Matlab a PSpice. Testování jednotlivých parametrů v obvodu je realizováno pomocí testovacích bodů vhodně umístěných v obvodu tak, aby jejich počet byl co nejmenší. Pomocí přenosových funkcí nepřímo určujeme hodnoty součástek na vypočtených frekvencích. Sada frekvencí pro testované součástky je vypočtena pomocí stochastické metody.
 
The main goal of this work is to present the issue of testing analogue linear circuits in terms of diagnosis of single components for which it is sought to prove their nominal values. It is necessary for the work to introduce methods of describing linear circuits via the node voltage method (MUN), and production of transmissive functions. The Matlab and PSpice programmes are used to do the diagnoses. The testing of single parameters of the circuit is carried out through proper placing of testing points in the circuit the way in which their number is as small as possible. Through transmissive functions we indirectly state the values of components operating on calculated frequencies. The set of frequencies for the components is figured out using the stochastic method.
 
Klíčová slova
Testování analogových obvodů, kmitočtové filtry, stochastická optimalizace, testovatelnost, test index, Analog circuits faults diagnosis, frequency filter, stochastic optimalization, testability, test index
Jazyk
čeština (Czech)
Studijní obor
Elektronika a sdělovací technika
Složení komise
prof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) prof. Ing. Miroslav Kasal, CSc. (místopředseda) Ing. Michal Kubíček, Ph.D. (člen) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (člen) Ing. Michal Zamazal, Ph.D. (člen) prof. Mgr. Páta Petr, Ph.D. (člen)
Termín obhajoby
2011-06-14
Průběh obhajoby
Student prezentuje výsledky a postupy řešení své bakalářské práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.
Výsledek obhajoby
práce byla úspěšně obhájena
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/11012/6664
Zdrojový dokument
VÁŠKO, O. Testování analogových obvodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.
Kolekce
  • 2011 [516]
Citace PRO

Portál knihoven VUT | Ústřední knihovna na Facebooku
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru | Theme by @mire NV
 

 

Procházet

Vše v repozitářiKomunity a kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slovaTato kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slova

Můj účet

Přihlásit seZaregistrovat se

Statistiky

Zobrazit statistiky využívání

Portál knihoven VUT | Ústřední knihovna na Facebooku
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru | Theme by @mire NV