• čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • українська 
    • čeština
    • English
    • русский
    • Deutsch
    • français
    • polski
    • українська
  • Ввійти
Перегляд матеріалів 
  •   Головна сторінка DSpace
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2011
  • Перегляд матеріалів
  •   Головна сторінка DSpace
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2011
  • Перегляд матеріалів
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Testování analogových obvodů

Analog Circuits Faults Diagnosis

Thumbnail
Переглянути
review_39274.html (6.847Kb)
final-thesis.pdf (1.136Mb)
Автор
Váško, Ondřej
Advisor
Kincl, Zdeněk
Referee
Kolka, Zdeněk
Grade
E
Altmetrics
Metadata
Показати повний опис матеріалу
Короткий опис(реферат)
Hlavním cílem práce je seznámit se problematikou testování analogových lineárních obvodů z hlediska diagnostikování jednotlivých součástek, u kterých chceme ověřit jejich nominální hodnotu. Pro práci bylo nutné se seznámit s metodami popisu lineárních obvodů pomocí metody uzlových napětí a tvorbou přenosových obvodových funkcí. Při realizaci testování je využíváno programu Matlab a PSpice. Testování jednotlivých parametrů v obvodu je realizováno pomocí testovacích bodů vhodně umístěných v obvodu tak, aby jejich počet byl co nejmenší. Pomocí přenosových funkcí nepřímo určujeme hodnoty součástek na vypočtených frekvencích. Sada frekvencí pro testované součástky je vypočtena pomocí stochastické metody.
 
The main goal of this work is to present the issue of testing analogue linear circuits in terms of diagnosis of single components for which it is sought to prove their nominal values. It is necessary for the work to introduce methods of describing linear circuits via the node voltage method (MUN), and production of transmissive functions. The Matlab and PSpice programmes are used to do the diagnoses. The testing of single parameters of the circuit is carried out through proper placing of testing points in the circuit the way in which their number is as small as possible. Through transmissive functions we indirectly state the values of components operating on calculated frequencies. The set of frequencies for the components is figured out using the stochastic method.
 
Keywords
Testování analogových obvodů, kmitočtové filtry, stochastická optimalizace, testovatelnost, test index, Analog circuits faults diagnosis, frequency filter, stochastic optimalization, testability, test index
Language
čeština (Czech)
Study brunch
Elektronika a sdělovací technika
Composition of Committee
prof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) prof. Ing. Miroslav Kasal, CSc. (místopředseda) Ing. Michal Kubíček, Ph.D. (člen) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (člen) Ing. Michal Zamazal, Ph.D. (člen) prof. Mgr. Páta Petr, Ph.D. (člen)
Date of defence
2011-06-14
Process of defence
Student prezentuje výsledky a postupy řešení své bakalářské práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.
Result of the defence
práce byla úspěšně obhájena
URI
http://hdl.handle.net/11012/6664
Source
VÁŠKO, O. Testování analogových obvodů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.
Collections
  • 2011 [516]
Citace PRO

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок | Theme by @mire NV
 

 

Перегляд

Всі матеріалиФонди та колекціїЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТемиКолекціяЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТеми

Мій профіль

ВвійтиЗареєструватися

Статистика

View Usage Statistics

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок | Theme by @mire NV