Porovnání mikroskopických diagnostických metod
Comparison of microscopic diagnostic methods
Author
Advisor
Čudek, PavelReferee
Tihlaříková, EvaGrade
DAltmetrics
Metadata
Show full item recordAbstract
Tato práce se zabývá popisem a porovnáním diagnostických metod transmisní elektronové mikroskopie, rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. V úvodu práce je uveden popis jednotlivých diagnostických metod. Následuje experimentální část zabývající se diagnostikou vzorku feritické chromové oceli metodami rastrovací elektronové mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, transmisní elektronové mikroskopie a vyhodnocením a interpretací naměřených výsledků. V závěru práce je uvedeno srovnání, výhody a nevýhody použitých diagnostických metod. This thesis deals with the description and comparison of diagnostic methods, transmission electron microscopy, scanning electron microscopy and atomic force microscopy. The introduction is a description of diagnostic methods. The following experimental section dealing with the diagnosis of ferritic chromium steel sample methods of scanning electron microscopy, atomic force microscopy, transmission electron microscopy and the evaluation and interpretation of measured results. The conclusion provides a comparison, the advantages and disadvantages of diagnostic methods.
Keywords
Rastrovací elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, mikroskopie rastrující sondou, primární elektrony, sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony, hrot, kontaktní režim, bezkontaktní režim., Scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, atomic force microscopy, scanning probe microscopy, primary elektron, secundary elektron, backscattered electron, tip, contact mode, non-contact mode.Language
čeština (Czech)Study brunch
Mikroelektronika a technologieComposition of Committee
prof. Ing. Radimír Vrba, CSc. (předseda) prof. Ing. Jaromír Kadlec, CSc. (místopředseda) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen)Date of defence
2012-08-23Process of defence
Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Ake vyhody ma AFM? Zavislost rozlisenia na tlaku a vzdialenosti vzorku. Porovnanie metod zistovania struktury povrchu. Vyhody AFM voci SEM.Result of the defence
práce nebyla úspěšně obhájenaPersistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/72310Source
VESELÝ, J. Porovnání mikroskopických diagnostických metod [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.Collections
- 2012 [467]