• čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2012
  • View Item
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
  • 2012
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Porovnání mikroskopických diagnostických metod

Comparison of microscopic diagnostic methods

Thumbnail
View/Open
appendix-1.pdf (4.028Mb)
final-thesis.pdf (2.262Mb)
review_57371.html (4.202Kb)
Author
Veselý, Jakub
Advisor
Čudek, Pavel
Referee
Tihlaříková, Eva
Grade
D
Altmetrics
Metadata
Show full item record
Abstract
Tato práce se zabývá popisem a porovnáním diagnostických metod transmisní elektronové mikroskopie, rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. V úvodu práce je uveden popis jednotlivých diagnostických metod. Následuje experimentální část zabývající se diagnostikou vzorku feritické chromové oceli metodami rastrovací elektronové mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, transmisní elektronové mikroskopie a vyhodnocením a interpretací naměřených výsledků. V závěru práce je uvedeno srovnání, výhody a nevýhody použitých diagnostických metod.
 
This thesis deals with the description and comparison of diagnostic methods, transmission electron microscopy, scanning electron microscopy and atomic force microscopy. The introduction is a description of diagnostic methods. The following experimental section dealing with the diagnosis of ferritic chromium steel sample methods of scanning electron microscopy, atomic force microscopy, transmission electron microscopy and the evaluation and interpretation of measured results. The conclusion provides a comparison, the advantages and disadvantages of diagnostic methods.
 
Keywords
Rastrovací elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, mikroskopie rastrující sondou, primární elektrony, sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony, hrot, kontaktní režim, bezkontaktní režim., Scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, atomic force microscopy, scanning probe microscopy, primary elektron, secundary elektron, backscattered electron, tip, contact mode, non-contact mode.
Language
čeština (Czech)
Study brunch
Mikroelektronika a technologie
Composition of Committee
prof. Ing. Radimír Vrba, CSc. (předseda) prof. Ing. Jaromír Kadlec, CSc. (místopředseda) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen)
Date of defence
2012-08-23
Process of defence
Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Ake vyhody ma AFM? Zavislost rozlisenia na tlaku a vzdialenosti vzorku. Porovnanie metod zistovania struktury povrchu. Vyhody AFM voci SEM.
Result of the defence
práce nebyla úspěšně obhájena
Persistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/72310
Source
VESELÝ, J. Porovnání mikroskopických diagnostických metod [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.
Collections
  • 2012 [467]
Citace PRO

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV
 

 

Browse

All of repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV