Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstract
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
The master´s thesis deals with the study of optical properties of thin transparent layers on the organic materials (PPV, P3HT, TiO2, DPP) and especially with the determination of dispersion dependences of refractive index of prepared thin layers. In the theoretical part there are described principles of deposition thin layers of the analyzed materials and their properties. In addition, there are also described methods of optical properties measurements (optical and interference microscopy and ellipsometry). The combination of interference microscope with digital camera was used for determination of refractive index. The image analysis was used for the determination of parameters (with help of the software HarFA). The images of thin layers surfaces were analyzed from the side of the metal contact as well as from the side of glass. In conclusion, there are presented results of the refractive index of the thin layers obtained from the measured values.
The master´s thesis deals with the study of optical properties of thin transparent layers on the organic materials (PPV, P3HT, TiO2, DPP) and especially with the determination of dispersion dependences of refractive index of prepared thin layers. In the theoretical part there are described principles of deposition thin layers of the analyzed materials and their properties. In addition, there are also described methods of optical properties measurements (optical and interference microscopy and ellipsometry). The combination of interference microscope with digital camera was used for determination of refractive index. The image analysis was used for the determination of parameters (with help of the software HarFA). The images of thin layers surfaces were analyzed from the side of the metal contact as well as from the side of glass. In conclusion, there are presented results of the refractive index of the thin layers obtained from the measured values.
Description
Citation
SCHMIEDOVÁ, V. Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2012.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Spotřební chemie
Comittee
prof. Ing. Miloslav Pekař, CSc. (předseda)
prof. Ing. Michal Čeppan, CSc. (místopředseda)
prof. RNDr. Marie Kaplanová, CSc. (člen)
doc.Ing. Marián Lehocký, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Michal Veselý, CSc. (člen)
prof. Ing. Oldřich Zmeškal, CSc. (člen)
doc. Ing. Pavel Kovařík, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2012-06-05
Defence
Lehocký: vlastnosti vrstev – krystalické, amorfní látky
Čeppan: jak byla vytvořena kalibrační křivka
definice diagramu chromatičnosti
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení