• čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   Domovská stránka repozitáře
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta strojního inženýrství
  • 2018
  • Zobrazit záznam
  •   Domovská stránka repozitáře
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta strojního inženýrství
  • 2018
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie

Techniques of thin layers deposition and characterization, their analysis using scanning electron microscopy

Thumbnail
Zobrazit/otevřít
final-thesis.pdf (5.691Mb)
review_108427.html (10.45Kb)
Autor
Kiška, Roman
Vedoucí práce
Čupera, Jan
Oponent
Moravčík, Igor
Klasifikace
C
Alternativní metriky PlumX
http://hdl.handle.net/11012/82337
Altmetrics
http://hdl.handle.net/11012/82337
http://hdl.handle.net/11012/82337
Metadata
Zobrazit celý záznam
Abstrakt
Tato práce se zabývá metodami nanášení tenkých vrstev, a to zejména metodou PVD a CVD. Součástí práce byla i experimentální část, kde byly nedeponovány dva vzorky metodou magnetronového naprašování a nanášením z plynné fáze. Cílem práce bylo porovnat jejich materiálové vlastnosti se vzorky průmyslově vyrobenými, měřena byla jejich tvrdost, adheze, drsnost a tloušťka. Teoretická část se zabývá chemickou a fyzikální podstatou různých metod depozice tenkých vrstev a popisem materiálových vlastností, které jsou u tenkých povlaků podstatné. Praktická část zahrnuje popis depozičních procesů a použitých charakterizačních technik.
 
My thesis is concerned with the application of thin films methods and it focuses on the method of PVD and CVD. Another part of my work is experimental, where two samples were preapared by magnetron sputtering and by method of gas phase deposition. The aim of the work was to compare their material properties with commercially produced samples. Severel parts were measured - nanohardness, adhesion, roughness and thickness. Theoretical part focuses on chemical and physical essence of the different methods of the deposition of thin films and on the description of material properties, that are essential for thin films. The practical part includes the description of depositional processes and of the characteristic techniques used in the practical part.
 
Klíčová slova
PVD, CVD, nanotvrdost, adheze, drsnost, SEM, AFM, Youngův modul pružnosti, PVD, CVD, nanohardness, adhesion, roughness, SEM, AFM, Young’s modulus of elasticity
Jazyk
čeština (Czech)
Studijní obor
Základy strojního inženýrství
Složení komise
doc. Ing. Vít Jan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Bohumil Pacal, CSc. (místopředseda) Ing. Martin Juliš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Ladislav Čelko, Ph.D. (člen) Ing. Václav Pouchlý, Ph.D., ING-PAED IGIP (člen) doc. Ing. David Salamon, Ph.D. (člen)
Termín obhajoby
2018-06-13
Průběh obhajoby
Výsledek obhajoby
práce byla úspěšně obhájena
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/11012/82337
Zdrojový dokument
KIŠKA, R. Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2018.
Kolekce
  • 2018 [603]
Citace PRO

Portál knihoven VUT | Ústřední knihovna na Facebooku
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru | Theme by @mire NV
 

 

Procházet

Vše v repozitářiKomunity a kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slovaTato kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slova

Můj účet

Přihlásit seZaregistrovat se

Statistiky

Zobrazit statistiky využívání

Portál knihoven VUT | Ústřední knihovna na Facebooku
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru | Theme by @mire NV