• čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta strojního inženýrství
  • 2018
  • View Item
  •   Repository Home
  • Závěrečné práce
  • bakalářské práce
  • Fakulta strojního inženýrství
  • 2018
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie

Techniques of thin layers deposition and characterization, their analysis using scanning electron microscopy

Thumbnail
View/Open
final-thesis.pdf (5.691Mb)
review_108427.html (10.45Kb)
Author
Kiška, Roman
Advisor
Čupera, Jan
Referee
Moravčík, Igor
Grade
C
Alternative metrics PlumX
http://hdl.handle.net/11012/82337
Altmetrics
http://hdl.handle.net/11012/82337
http://hdl.handle.net/11012/82337
Metadata
Show full item record
Abstract
Tato práce se zabývá metodami nanášení tenkých vrstev, a to zejména metodou PVD a CVD. Součástí práce byla i experimentální část, kde byly nedeponovány dva vzorky metodou magnetronového naprašování a nanášením z plynné fáze. Cílem práce bylo porovnat jejich materiálové vlastnosti se vzorky průmyslově vyrobenými, měřena byla jejich tvrdost, adheze, drsnost a tloušťka. Teoretická část se zabývá chemickou a fyzikální podstatou různých metod depozice tenkých vrstev a popisem materiálových vlastností, které jsou u tenkých povlaků podstatné. Praktická část zahrnuje popis depozičních procesů a použitých charakterizačních technik.
 
My thesis is concerned with the application of thin films methods and it focuses on the method of PVD and CVD. Another part of my work is experimental, where two samples were preapared by magnetron sputtering and by method of gas phase deposition. The aim of the work was to compare their material properties with commercially produced samples. Severel parts were measured - nanohardness, adhesion, roughness and thickness. Theoretical part focuses on chemical and physical essence of the different methods of the deposition of thin films and on the description of material properties, that are essential for thin films. The practical part includes the description of depositional processes and of the characteristic techniques used in the practical part.
 
Keywords
PVD, CVD, nanotvrdost, adheze, drsnost, SEM, AFM, Youngův modul pružnosti, PVD, CVD, nanohardness, adhesion, roughness, SEM, AFM, Young’s modulus of elasticity
Language
čeština (Czech)
Study brunch
Základy strojního inženýrství
Composition of Committee
doc. Ing. Vít Jan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Bohumil Pacal, CSc. (místopředseda) Ing. Martin Juliš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Ladislav Čelko, Ph.D. (člen) Ing. Václav Pouchlý, Ph.D., ING-PAED IGIP (člen) doc. Ing. David Salamon, Ph.D. (člen)
Date of defence
2018-06-13
Process of defence
Result of the defence
práce byla úspěšně obhájena
Persistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/82337
Source
KIŠKA, R. Depozice a charakterizace tenkých vrstev a jejich analýza za pomoci skenovací elektronové mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2018.
Collections
  • 2018 [603]
Citace PRO

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV
 

 

Browse

All of repositoryCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

Portal of libraries | Central library on Facebook
DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback | Theme by @mire NV