Rastrovací tunelová mikroskopie STM

Michele, Ondřej

Scanning Tunneling Microscopy STM

Grade

Altmetrics

Metadata

Show full item record

Abstract

Práce se zabývá problematikou STM mikroskopie. Byl zprovozněn komerční Nanosurf easyScan2 STM mikroskop a byla vypracována metodika přípravy hrotů pomocí stříhání PtIr drátu a leptání W drátu.

The work deals with STM microscopy. The commercial Nanosurf easyScan2 STM microscope was activated and methodology of STM tip preparation by PtIr wire cutting and W wire etching was established.

Keywords

STM, rastrovací, tunelová, mikroskopie, hrot, STM, scanning, tunneling, microscopy, tip

Language

čeština (Czech)

Study brunch

Fyzikální inženýrství a nanotechnologie

Composition of Committee

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)

Date of defence

2010-06-17

Process of defence

Result of the defence

práce byla úspěšně obhájena

Persistent identifier

http://hdl.handle.net/11012/16263

Source

MICHELE, O. Rastrovací tunelová mikroskopie STM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010.

Collections

2010 [495]