Rastrovací tunelová mikroskopie STM
Scanning Tunneling Microscopy STM
Author
Advisor
Průša, StanislavReferee
Škoda, DavidGrade
BAltmetrics
Metadata
Show full item recordAbstract
Práce se zabývá problematikou STM mikroskopie. Byl zprovozněn komerční Nanosurf easyScan2 STM mikroskop a byla vypracována metodika přípravy hrotů pomocí stříhání PtIr drátu a leptání W drátu. The work deals with STM microscopy. The commercial Nanosurf easyScan2 STM microscope was activated and methodology of STM tip preparation by PtIr wire cutting and W wire etching was established.
Keywords
STM, rastrovací, tunelová, mikroskopie, hrot, STM, scanning, tunneling, microscopy, tipLanguage
čeština (Czech)Study brunch
Fyzikální inženýrství a nanotechnologieComposition of Committee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)Date of defence
2010-06-17Process of defence
Result of the defence
práce byla úspěšně obhájenaPersistent identifier
http://hdl.handle.net/11012/16263Source
MICHELE, O. Rastrovací tunelová mikroskopie STM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010.Collections
- 2010 [496]