Show simple item record

Signal analysis of transport and stochastic processes of emission detectors

dc.contributor.advisorAndreev, Alexeycs
dc.contributor.authorMíšek, Davidcs
dc.date.accessioned2019-04-03T22:11:58Z
dc.date.available2019-04-03T22:11:58Z
dc.date.created2008cs
dc.identifier.citationMÍŠEK, D. Analýza signálů z transportních a stochastických charakteristik detektorů záření [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008.cs
dc.identifier.other14210cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/16924
dc.description.abstractTato diplomová práce se zabývá vlastnostmi CdTe detektorů. Tento materiál patří do skupiny opticky citlivých materiálů. Práci lze tématicky rozdělit na dvě základní části. První část popisuje vlastnosti obou prvků a také celé sloučeniny. Z vybraných vlastností lze vyčíst přednosti tohoto materiálu, které jej předurčují do optické oblasti použití. Závěr této části tvoří popis kontaktu kov-polovodič. Tato problematika je důležitá pro pochopení podstaty okontaktování popisovaného materiálu. V druhé částí práce byla provedena řada měření. Pro přesnější porovnání byla měření nejprve provedena bez osvětlení a teprve poté s osvětlením. Během měření byla měněna vlnová délka záření a teplota vzorku. Klíčovými závislostmi byly Volt-Ampérová charakteristika a sledování odporu s různou teplotou vzorku a různou vlnovou délkou záření dopadajícího na vzorek. Pro vyšší přesnost byla měření několikrát opakována. Všechna data z měření byla zpracována na PC programem Easyplot.cs
dc.description.abstractThis Diploma thesis deals with properties of CdTe detectors. This material is ranked among optical sensitive group. This thesis can be thematically divided into two basic parts. The first part describes properties of both elements and the chemical adduct. Selected properties show perfections of the material, which are specializing it to optical area of application. The end of this part contains description of contact metal-semiconductor. This problem is important to comprehension principle the material contact. In second part there were making many measurements. For more accurately compare were first measurements doing without light and then with light. During making measurement was changed wave length and temperature of sample. Key factors were Volt-Ampere characteristics and resistance result with changed temperature and wave length impact to the sample. For better accuracy measurements were done many times. All of data from measurement were cultivate by PC Easyplot programme.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectKadmiumcs
dc.subjectTellurcs
dc.subjectCdTe detektorcs
dc.subjectkontakt kov-polovodičcs
dc.subjectpásový model kovu a polovodičecs
dc.subjectpásový model kontaktu kov-polovodičcs
dc.subjectF33B8cs
dc.subject452Bcs
dc.subjectF35C3cs
dc.subjectCadmiumen
dc.subjectTelluren
dc.subjectCdTe detectoren
dc.subjectcontact metal-semiconductoren
dc.subjectband model of metal and semiconductoren
dc.subjectband model of contact metal-semiconductoren
dc.subjectF33B8en
dc.subject452Ben
dc.subjectF35C3en
dc.titleAnalýza signálů z transportních a stochastických charakteristik detektorů zářenícs
dc.title.alternativeSignal analysis of transport and stochastic processes of emission detectorsen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2008-06-11cs
dcterms.modified2008-06-11-12:21:21cs
thesis.disciplineTelekomunikační a informační technikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav telekomunikacícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid14210en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2019.04.04 00:28:45en
sync.item.modts2019.04.03 22:43:04en
dc.contributor.refereeTofel, Pavelcs
dc.description.markAcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record