Show simple item record

Characterization of graphene electrical properties on MEMS structures

dc.contributor.advisorGablech, Imrichcs
dc.contributor.authorBrodský, Jancs
dc.date.accessioned2019-06-14T10:50:56Z
dc.date.available2019-06-14T10:50:56Z
dc.date.created2019cs
dc.identifier.citationBRODSKÝ, J. Charakterizace elektrických vlastností grafenu na MEMS strukturách [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2019.cs
dc.identifier.other119431cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/173788
dc.description.abstractTato práce popisuje základní vlastnosti grafenu, možnosti jeho syntézy a charakterizace pomocí Ramanovy spektroskopie, dvoubodového a čtyřbodového měření a van der Pauwovy metody. V praktické části je popsán postup vytvoření vzorků s grafen oxidem, redukovaným grafen oxidem a grafenem. Je provedeno měření volt-ampérových charakteristik pomocí dvoubodové metody. Následně je popsáno žíhání vzorku ve vakuové peci, které je důležité pro získání kvalitního elektrického kontaktu mezi 2D materiálem a elektrodami. Dále je provedena analýza vzorků pomocí Ramanovy spektroskopie. Další část práce shrnuje popis návrhu vlastní MEMS struktury a její výrobu. Vyrobená struktura slouží pro charakterizaci grafenu a ostatních 2D materiálů.cs
dc.description.abstractThis work presents basic properties of graphene, methods for its synthesis and methods for its characterization by Raman spectroscopy, two-point probe, four-point probe and van der Pauw measurements. The experimental part of this work describes the process of graphene oxide, reduced graphene oxide and graphene sample preparation and measurement of its current-voltage characteristic by two-point probe method. Subsequently, sample annealing in vacuum furnace is described in this work. The annealing is important for acquiring good electrical contact between the 2D material and electrodes. Sample analysis by Raman spectroscopy is performed. The last chapters of this work describe design and fabrication of MEMS structure. Such structure serves for characterization of graphene and other 2D materials.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectMEMScs
dc.subjectgrafencs
dc.subjectgrafen oxidcs
dc.subjectvolt-ampérová charakteristikacs
dc.subjectRamanova spektroskopiecs
dc.subjectMEMSen
dc.subjectgrapheneen
dc.subjectgraphene oxideen
dc.subjectcurrent-voltage characteristicen
dc.subjectRaman spectroscopyen
dc.titleCharakterizace elektrických vlastností grafenu na MEMS strukturáchcs
dc.title.alternativeCharacterization of graphene electrical properties on MEMS structuresen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2019-06-11cs
dcterms.modified2019-06-12-08:05:00cs
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid119431en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.04.27 04:58:49en
sync.item.modts2020.04.27 04:22:31en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.contributor.refereePekárek, Jancs
dc.description.markAcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeeprof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (předseda) doc. Ing. Pavel Šteffan, Ph.D. (místopředseda) Ing. Jitka Brüstlová, CSc. (člen) Ing. Vladimír Levek, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zemánek, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil státní zkušební komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Dále odpověděl na otázky komise: Čeho možno dosáhnout ohybem grafenu? Selektivity u senzorů plynů.cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record