Now showing items 1-1 of 1

  • Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties 

    Běhounek, Tomáš
    V této práci je prezentována inovativní metoda zvaná \textit{Zobrazovací Reflektometrie}, která je založena na principu spektroskopické reflektometrie a je určena pro vyhodnocování optických vlastností tenkých vrstev .\ ...