Browsing 2009 by Author "Zicha,, Josef"
Now showing items 1-1 of 1
-
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, TomášV této práci je prezentována inovativní metoda zvaná \textit{Zobrazovací Reflektometrie}, která je založena na principu spektroskopické reflektometrie a je určena pro vyhodnocování optických vlastností tenkých vrstev .\ ...