Show simple item record

STUDY OF COMPLICATED CRYSTAL STRUCTURES BY MEANS OF SLOW ELECTRONS

dc.contributor.advisorFrank, Luděkcs
dc.contributor.authorMikmeková, Šárkacs
dc.date.accessioned2019-04-03T22:58:44Z
dc.date.available2023-12-17cs
dc.date.created2013cs
dc.identifier.citationMIKMEKOVÁ, Š. Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2013.cs
dc.identifier.other70922cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/26943
dc.description.abstractPro studium krystalové struktury materiálů se standardně používají metody difrakční (RTG, neutrony, synchrotronové záření), dále difrakce zpětně odražených elektronů, skenovací transmisní elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie pomocí fokusovaného iontového svazku. Mikroskopie pomalými elektrony (SLEEM) není stále příliš známou metodou pro studium polykrystalů, a to navzdory tomu, že představuje velmi účinný nástroj pro zobrazení krystalové struktury. Pomocí pomalých elektronů emitovaných ze vzorku a detekovaných v celém úhlovém a energiovém spektru je dosaženo vysokého prostorového rozlišení a velkého kontrastu mezi odlišně orientovanými zrny. Díky vysoké citlivosti metody na distribuci vnitřního potenciálu lze zobrazit strukturní detaily, jako jsou např. subzrna či dvojčata a mapovat vnitřní napětí. Smyslem dizertační práce je demonstrovat metodu SLEEM jako efektivní nástroj pro studium širokého spektra materiálů, jako jsou oceli, neželezné slitiny a ultrajemnozrnné kovy.cs
dc.description.abstractMethods for examination of the crystal structure of crystalline materials include the X-Ray, neutron and synchrotron-radiation diffraction, electron backscattered diffraction in the scanning electron microscope, scanning transmission electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam microscopy. The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is less known as yet but already has proven itself very powerful tool for studies of the crystal lattice. By means of very slow electrons reflected from the sample and effectively detected in their full angular and energy distribution the crystalline structure is imaged at high spatial resolution and high contrast is obtained between differently oriented grains in polycrystals. Because of high sensitivity of the image signal to the inner potential distribution in the sample even details like subgrains or twins as well as strain at the microstructural level can be visualized. The aim of this thesis is to demonstrate the scanning low energy electron microscopy as an effective tool for investigation of wide range of materials like steels, non-ferrous alloys and ultra-fine grained materials.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsPřístup k plnému textu prostřednictvím internetu byl licenční smlouvou omezen na dobu 10 roku/letcs
dc.subjectSEMcs
dc.subjectUHV SLEEMcs
dc.subjectHV SLEEMcs
dc.subjectkatodová čočkacs
dc.subjectpokročilé materiálycs
dc.subjectSEMen
dc.subjectUHV SLEEMen
dc.subjectHV SLEEMen
dc.subjectcathode lensen
dc.subjectadvanced materialsen
dc.titleMikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických strukturcs
dc.title.alternativeSTUDY OF COMPLICATED CRYSTAL STRUCTURES BY MEANS OF SLOW ELECTRONSen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2013-12-17cs
dcterms.modified2014-10-16-10:48:52cs
thesis.disciplineFyzikální a materiálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
sync.item.dbid70922en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2019.04.04 00:42:13en
sync.item.modts2019.04.03 22:41:12en
dc.contributor.refereeKasl, Josefcs
dc.contributor.refereeŠvejcar, Jiřícs
dc.description.markPcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record