Show simple item record

Safety Microcontroller Applications

dc.contributor.advisorKlusáček, Stanislavcs
dc.contributor.authorNacev, Nikolacs
dc.date.accessioned2018-10-21T17:00:05Z
dc.date.available2018-10-21T17:00:05Z
dc.date.created2008cs
dc.identifier.citationNACEV, N. Bezpečné aplikace s mikrokontroléry [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008.cs
dc.identifier.other12761cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/3300
dc.description.abstractZáměrem této práce byly popsat metody návrhu bezpečných systémů, provést analýzu vzniku možných poruch v mikrokontrolérech při dlouhodobém provozu, popsat softwarové a hardwarové metody detekce poruch a aplikovat March testy na mikrokontroléry. Pro aplikaci byly zvoleny testy MATS+, PMOVI a March SS. Vybrané testy byly modifikovány na slovně-orientovanou paměť. Dále byla provedena jejich analýza chybového pokrytí, doby trvání testu a velikosti potřebné paměti programu. Pro analýzu chybového pokrytí byla vytvořena virtuální paměť s funkčními poruchovými modely. March testy byly poté porovnány jak mezi sebou, tak i s jiným vzorkovým testem (checkerboard).cs
dc.description.abstractThe deals of thesis were described methods for designing safety applications, made analysis of possible microcontroller faults of long-run system, described software and hardware methods for fault detection in microcontroller and applied some March test to microcontroller. To application were chosen MATS+, PMOVI and March SS tests. These tests were modified to word-oriented memory. Further it was made analysis of modified tests to determination fault coverage, testing times and program memory requirement. To determination of fault coverage was created virtual memory with fault function models. March tests were compared with each other and with another pattern test (checkboard test).en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectFMEAcs
dc.subjectFTAcs
dc.subjectanalýza poruchcs
dc.subjectmetody detekce poruchcs
dc.subjectporuchy SRAM pamětics
dc.subjectMarch testycs
dc.subjectPMOVIcs
dc.subjectMATS+cs
dc.subjectMarch SScs
dc.subjectchybové pokrytícs
dc.subjectdoba trvání testucs
dc.subjectcheckerboard testcs
dc.subjectFMEAen
dc.subjectFTAen
dc.subjectfault analyseen
dc.subjectfault detection methodsen
dc.subjectSRAM faultsen
dc.subjectMarch testsen
dc.subjectPMOVIen
dc.subjectMATS+en
dc.subjectMarch SSen
dc.subjectfault coverageen
dc.subjecttesting timeen
dc.subjectcheckerboard testen
dc.titleBezpečné aplikace s mikrokontrolérycs
dc.title.alternativeSafety Microcontroller Applicationsen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2008-06-10cs
dcterms.modified2008-10-07-09:33:08cs
thesis.disciplineKybernetika, automatizace a měřenícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav automatizace a měřicí technikycs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid12761en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2019.04.03 16:25:04en
sync.item.modts2019.04.03 13:49:24en
dc.contributor.refereeBeran, Jancs
dc.description.markAcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record