Show simple item record

Improvement of control and analysis techniques of a SPM model

dc.contributor.advisorŠulc, Daliboren
dc.contributor.authorŠtefko, Marcelen
dc.date.accessioned2019-04-04T04:36:09Z
dc.date.available2019-04-04T04:36:09Z
dc.date.created2015cs
dc.identifier.citationŠTEFKO, M. Zdokonalení řídících a analyzačních technik vývojového modelu SPM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.cs
dc.identifier.other83526cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/40208
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá zdokonalováním výukového modelu mikroskopu atomárních sil (AFM). Součástí práce je rešerše stávajících analogii mezi makroskopickými jevy a fenomény spojenými s mikroskopii rastrovací sondou. Dále byla vybrána vhodná analogie, která byla následně implementována do již existujícího modelu mikroskopu atomárních sil. Do modelu byl integrován i jednodeskový počítač, který zajistí ovládání i bez nutnosti připojení externího počítače. Na závěr byly vyhodnoceny vlastnosti použité sondy a analogie mezi modelem a skutečnými mikroskopy atomárních sil.en
dc.description.abstractThis Bachelor Thesis is focused on development of a model of an atomic force microscope (AFM). First part of the thesis is research of already existing analogies between macroscopic phenomena and phenomena connected to scanning probe microscopy. A suitable analogy was chosen and implemented into an existing AFM model. A single-board computer was integrated into the model to enable control without connecting an external computer. In final chapters, probe behaviour and analogies between the model and real atomic force microscopes are discussed.cs
dc.language.isoencs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectMikroskopie rastrovací sondouen
dc.subjectSPMen
dc.subjectmikroskopie atomárních silen
dc.subjectAFMen
dc.subjectmodelen
dc.subjectanalogieen
dc.subjectScanning Probe Microscopycs
dc.subjectSPMcs
dc.subjectAtomic Force Microscopycs
dc.subjectAFMcs
dc.subjectmodelcs
dc.subjectanalogycs
dc.titleZdokonalení řídících a analyzačních technik vývojového modelu SPMen
dc.title.alternativeImprovement of control and analysis techniques of a SPM modelcs
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2015-06-25cs
dcterms.modified2015-06-25-14:35:15cs
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
sync.item.dbid83526en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.04.01 02:25:03en
sync.item.modts2020.03.31 22:33:27en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
dc.contributor.refereeNováček, Zdeněken
dc.description.markAcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.jazykangličtina (English)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record