Zkoumání souvislostí mezi pokrytím poruch a testovatelností elektronických systémů

Abstract

Tato práce se zabývá problematikou analýzy testovatelnosti číslicových obvodů a pokrytím poruch. Obsahuje popis návrhu číslicových systémů, jejich diagnostiky, dále popis nástrojů na generování a aplikaci testů a sady testovacích obvodů. Popisuje testování obvodů a provádění experimentů v nástroji TASTE pro analýzu testovatelnosti a v komerčním nástroji pro generování a aplikaci testů. Experimenty jsou zaměřeny na zvýšení testovatelnosti jednotlivých obvodů.

This work deals with testability analysis of digital circuits and fault coverage. It contains a desription of digital systems, their diagnosis, a description of tools for generating and applying tests and sets of benchmark circuits. It describes the testing of circuits and experimentation in tool TASTE for testability analysis and commercial tool for generating and applying tests. The experiments are focused on increase the testability of circuits.