LabVIEW drivery pro odporové dekády

Procházka, Matěj

LabVIEW drivers for resistor decade

Grade

Alternative metrics PlumX

Altmetrics

Metadata

Show full item record

Abstract

Tato bakalářská práce se zabývá popisem odporové dekády M63x a M64x od firmy Meatest. Popisují se zde funkce a možnosti vzdáleného přístupu k dekádě. Dále je zde rozebráno, jak se vytváří driver ve vývojovém prostředí LabVIEW. Ke konci je uvedeno, jak jsem prováděl testování driveru.

This bachelor's thesis deals with description resistance decade M63x and M64x from Meatest company. I described functions and possibilities of remote access. Further are described how it's developed instrument driver in LabVIEW. At the end is cited how I conduct with testing this driver.

Keywords

Odporová dekáda M63x, funkce, odpor, platina, nikl, ovladač, teplota., Resistance decade M63x, function, resistance, platinum, nickel, driver, temperature.

Language

čeština (Czech)

Study brunch

Automatizační a měřicí technika

Composition of Committee

prof. Ing. Rudolf Jalovecký, CSc. (předseda) doc. Ing. Petr Blaha, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Petr Fiedler, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Fialka, Ph.D. (člen) Ing. Radek Štohl, Ph.D. (člen)

Date of defence

2016-06-14

Process of defence

Student obhájil bakalářskou práci s výhradami.

Result of the defence

práce byla úspěšně obhájena

Persistent identifier

http://hdl.handle.net/11012/60438

Source

PROCHÁZKA, M. LabVIEW drivery pro odporové dekády [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2016.

Collections

2016 [443]