Design elektronového mikroskopu

Švajdová, Anna

Design of the electron microscope

Grade

Altmetrics

Metadata

Show full item record

Abstract

Tématem diplomové práce je design skenovacího elektronového mikroskopu s fokusovaným iontovým svazkem. Práce se zabývá řešením designu krytů mikroskopu a přilehlého pracoviště operátora pro společnost Tescan Orsay Holding a.s.. Design je řešen jako první návrh směřující k budoucímu inovování designu celé produktové řady.

The theme of this diploma thesis is the design of a scanning electron microscope with a focused ion beam. Specifically, the thesis is focused on the design of the microscope covers and the adjacent workplace of the operator for Tescan Orsay Holding a.s.. Design is solved as the first proposal aimed at future innovation of the design of the entire product line.

Keywords

skenovací elektronový mikroskop, SEM, fokusovaný iontový svazek, FIB, mikroskopie, průmyslový design, scanning electron microscope, SEM, focus ion beam, FIB, microscopy, industrial design

Language

čeština (Czech)

Study brunch

Průmyslový design ve strojírenství

Composition of Committee

prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Ivan Mazůrek, CSc. (místopředseda) PhDr. Jana Pavlíčková (člen) doc. akad. soch. Ladislav Křenek, ArtD. (člen) doc. Ing. Branislav Jelenčík, ArtD. (člen) doc. Ing. arch. Jan Rajlich (člen) doc. MgA. Martin Surman, ArtD. (člen) Mgr.A Martin Tvarůžek (člen)

Date of defence

2017-06-12

Process of defence

Result of the defence

práce byla úspěšně obhájena

Persistent identifier

http://hdl.handle.net/11012/67341

Source

ŠVAJDOVÁ, A. Design elektronového mikroskopu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017.

Collections

2017 [491]