Browsing 2018 by Subject "In-GaN kvantová jama"
Now showing items 1-1 of 1
-
Příprava řezů vzorků a jejich analýza metodou SIMS
Táto práca sa zaoberá možnosťami štúdia polovodičových súčastok pomocou metódy SIMS s dôrazom na testovanie rôznych parametrov merania a rôznych spôsobov prípravy vzoriek. V rámci tejto práce bol navrhnutý a otestovaný ...