Show simple item record

Contrast in image aquired by scintillation SE detector for VP SEM

dc.contributor.advisorJirák, Josefcs
dc.contributor.authorKoudela, Oldřichcs
dc.date.accessioned2018-10-21T20:39:24Z
dc.date.available2018-10-21T20:39:24Z
dc.date.created2011cs
dc.identifier.citationKOUDELA, O. Kontrast v obraze získaném pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011.cs
dc.identifier.other41107cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/8167
dc.description.abstractPrvní část této práce je teoretické pojednání o základech rastrovací elektronové mikroskopie, složení a funkci elektronového mikroskopu, jeho speciálním případu rastrovacím elektronovém mikroskopu pro vyšší tlak (VP SEM), interakci elektronů s prostředím a o scintilačním detektoru. Praktická část je zaměřena na vyhodnocení materiálového kontrastu na vzorku mědi a wolframu v závislosti na tlaku vodních par v komoře vzorku mikroskopu a podmínkách detekce.cs
dc.description.abstractFirst part of this thesis is a theoretical essay which deals with the basics of scanning electron microscopy, with structure and function of a scanning electron microscope, its’ special case of an various pressure scanning electron microscope, electron interaction with surrounding environment and with a scintillation detector. The applied part of the thesis is focused on evaluation of material contrast on Cu-W specimen. Material contrast is evaluated for different pressures of water vapors in the microscope specimen chamber and for different detection conditions.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectRastrovací elektronový mikroskop pracující při vyšším tlakucs
dc.subjectscintilační detektorcs
dc.subjectmateriálový kontrastcs
dc.subjectVarious pressure scanning electron microscopeen
dc.subjectscintillation detectoren
dc.subjectmaterial contrasten
dc.titleKontrast v obraze získaném pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEMcs
dc.title.alternativeContrast in image aquired by scintillation SE detector for VP SEMen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2011-06-08cs
dcterms.modified2011-07-15-10:45:08cs
thesis.disciplineElektrotechnická výroba a managementcs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
sync.item.dbid41107en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.03.31 18:39:13en
sync.item.modts2020.03.31 15:13:58en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.contributor.refereeŠpinka, Jiřícs
dc.description.markBcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
but.committeeprof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (předseda) doc. Ing. Vítězslav Novák, Ph.D. (místopředseda) Ing. Ivana Groligová, CSc. (člen) Ing. Petr Špičák, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Špinka (člen)cs
but.defenceDiplomant seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Popište funkci scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM.cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record