Show simple item record

Characterization of 1-D Nanostructures by SPM Methods

dc.contributor.advisorDub, Petrcs
dc.contributor.authorŠkoda, Davidcs
dc.date.accessioned2019-06-14T11:04:47Z
dc.date.available2019-06-14T11:04:47Z
dc.date.created2010cs
dc.identifier.citationŠKODA, D. Charakterizace 1-D nanostruktur metodami SPM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010.cs
dc.identifier.other32976cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/9139
dc.description.abstractDizertační práce je zaměřena na charakterizaci uhlíkových nanotrubic a stříbrných nanodrátu rastrovací sondovou mikroskopií -- rastrující tunelovou mikroskopií (STM), mikroskopií atomárních sil (AFM), vodivostní mikroskopií AFM (CAFM) a mikroskopií blízkého pole (SNOM). Uhlíkové nanotrubice byly analyzovány mikroskopiemi STM, AFM a CAFM. V navržené aparatuře byly připraveny stříbrné nanodráty depozicí do polykarbonátových membrán, analyzovány z hlediska geometrie (AFM), lokální vodivosti (CAFM) a optických vlastností (SNOM, mikroreflexní spektroskopie). Bylo zjištěno, že preferenční typ uhlíkových nanotrubic závisí na zpusobu jejich výroby. Vodivostní měření prokázala obdobnou citlivost na rozložení multivrstev nanotrubic jako u STM. Stříbrné nanodráty odpovídají svojí geometrií depozičním podmínkám (AFM), vykazují polovodičové chování (CAFM) a po osvětlení bílým světlem vyzakazují lokalizované plasmonové rezonance.cs
dc.description.abstractThe thesis is aimed at the characterization of carbon nanotubes and silver nanowires by Scanning Probe Microscopy, namely Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM), Conductive AFM (CAFM) and Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM). Carbon nanotubes were analyzed by STM, AFM and CAFM microscopy. In a designed apparatus the silver nanowires were fabricated by template assisted deposition and were analyzed with respect to their geometry (AFM), local conductivity (CAFM) and optical properties (SNOM, microreflex spectroscopy). It was found that preferential type of carbon nanowires depends on the fabrication process. The measurements of local conductivity of the nanotubes revealed the similarity with the STM measurements. The AFM measurements of silver nanowires confirmed their growth inside the pores of polycarbonate template. Single nanowires exhibits the semiconducting behavior according to I--V measurement and localized plasmon resonances.en
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subject1--D nanostrukturycs
dc.subjectrastrovací sondová mikroskopiecs
dc.subjectuhlíkové nanotrubicecs
dc.subjectstříbrné nanodrátycs
dc.subject1--D nanostructuresen
dc.subjectScanning Probe Microscopyen
dc.subjectCarbon Nanotubesen
dc.subjectSilver Nanowiresen
dc.titleCharakterizace 1-D nanostruktur metodami SPMcs
dc.title.alternativeCharacterization of 1-D Nanostructures by SPM Methodsen
dc.typeTextcs
dcterms.dateAccepted2010-06-07cs
dcterms.modified2010-06-17-13:59:29cs
thesis.disciplineFyzikální a materiálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
sync.item.dbid32976en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2020.04.01 10:22:26en
sync.item.modts2020.04.01 02:22:06en
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
dc.contributor.refereeČech, Vladimírcs
dc.contributor.refereePavlík, Jaroslavcs
dc.description.markPcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
but.committeeprof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) prof. RNDr. Vladimír Čech, Ph.D. (místopředseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencePřínosem práce jsou výsledky systematické a časově velmi náročné činnosti při charakterizaci velmi rozsáhlého souboru uhlíkových nanostruktur, zavedení relativně složitých a komplikovaných diagnostických metod vodivostní atomární silové mikroskopie /CAMF/ a mikroskopie blízkého pole (SNOM) a zavedení přípravy stříbrných nanodrátů.cs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
but.programFyzikální a materiálové inženýrstvícs
but.jazykčeština (Czech)


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record