Nejistoty a kompatibilita měření

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Tato práce se zabývá problematikou nejistot měření při měření odporů a indukčností. Dále se věnuje zpracováním obecných postupů pro určení nejistot měření s použitím měřicích přístrojů Agilent 4263B, Tesla BM507 a Tesla BM591 u zmíněných druhů měření. Bakalářská práce popisuje možné zdroje nejistot, které se mohou vyskytnout u těchto přístrojů. Popisuje rovněž praktické příklady měření s etalonem odporu a indukčnosti se zmíněnými měřicími přístroji a následně vyhodnocuje kompatibilitu těchto měření.
This work is concerning the matter of resistor and inductance measurement uncertainty. It addresses the elaboration of general measurement uncertainty processes for the measurements mentioned above using Agilent 4263B, Tesla BM507 and Tesla BM591 measurement instruments. This bachelor’s thesis describes possible sources of measurement uncertainty that might arise from the use of these measurement instruments. It also describes practical examples of resistivity and induction standard measurement projects using these measurement instruments followed by a compatibility evaluation of these measurements.
Description
Citation
KVAPIL, J. Nejistoty a kompatibilita měření [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Automatizační a měřicí technika
Comittee
plk. gšt. prof. Dr. Ing. Alexandr Štefek, Dr. (předseda) doc. Ing. Petr Blaha, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Zdeněk Bradáč, Ph.D. (člen) Ing. Marie Havlíková, Ph.D. (člen) Ing. Radek Štohl, Ph.D. (člen) Ing. Soběslav Valach (člen)
Date of acceptance
2009-06-16
Defence
Student obhájil bakalářskou práci.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO